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產(chǎn)品詳情

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產(chǎn)品名稱：OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng)GP-2000
產(chǎn)品型號：GP-2000
產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
產(chǎn)品價格：0
折扣價格：0
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簡單介紹：

GP-2000 OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng) 紫外LED的配光特性.。 ·根據(jù)放射強度/放射光照度的配光評價。 ·通過分光配光評價每個波長的放射強度。使**和樹脂硬化光源的照射不均可視化。OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng)GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng)GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng)GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測量

詳情介紹：

GP-2000
OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng)

紫外LED的配光特性.。
·根據(jù)放射強度/放射光照度的配光評價。
·通過分光配光評價每個波長的放射強度。
使**和樹脂硬化光源的照射不均可視化。

特長:
通過分光配光對紫外光進行高精度測定。
評估光束分布到紫外光的*大光度、光束打開和光束通量。
覆蓋從紫外到可見的波長范圍。
支持從LED芯片到模塊、應用等多種樣本。
軟件集中控制電源和測量儀表

測試項目：
配光-紫外輻射強度或輻射強度下的角度分布。
*大光度，光束打開，光束通量。
輻照度、輻射強度和輻射強度。
全光束。
分鐘光亮數(shù)據(jù)。
以光分布測量系統(tǒng)為準的測量項目。
全光束，色度坐標xy，uv，u‘v。
相關色溫、Duv、主波長、刺激純度。
演色性評價Ra，R1~R15。
峰值波長、半寬度

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仕様

紫外分光配光測定システムの仕様