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GP-7 series 1000 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng) 是光源單體和光學(xué)材料的配光的裝置.。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7series1000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7series1000
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GP-7 series 600 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng) 是光源單體和光學(xué)材料的配光的裝置.。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7series600OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7series600
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GP-7 series 300 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng) 是光源單體和光學(xué)材料的配光的裝置.。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 300OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 300OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 300OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 300
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GP-7 series OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng) OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7seriesOTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7seriesOTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7seriesOTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7series
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MR-2000 OTSUKA大冢-動(dòng)畫特性測量裝置MR-2000OTSUKA大冢-動(dòng)畫特性測量裝置MR-2000OTSUKA大冢-動(dòng)畫特性測量裝置MR-2000
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MPRT-2000 OTSUKA大冢-動(dòng)畫特性測量裝置MPRT-2000OTSUKA大冢-動(dòng)畫特性測量裝置MPRT-2000OTSUKA大冢-動(dòng)畫特性測量裝置MPRT-2000
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HS-1000 OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射光度計(jì)HS-1000OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射光度計(jì)HS-1000OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射光度計(jì)HS-1000
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GC-1 OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器 實(shí)現(xiàn)真正的黑屏！ 把黑色的差異數(shù)值化。 OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1
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RETS series OTSUKA大冢-單元間隙檢查設(shè)備 從反射型·透射型的液晶封入單元到彩色過濾空單元的廣泛對應(yīng) OTSUKA大冢-單元間隙檢查設(shè)備RETS seriesOTSUKA大冢-單元間隙檢查設(shè)備RETS series
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LCF series OTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置 OTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置LCF seriesOTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置LCF seriesOTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置LCF series
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OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統(tǒng) 熒光體1粒子的熒光特性可以測定的高靈敏度系統(tǒng)。 1從粒子的取出到測量的系統(tǒng)化。 可以測量10μm的粒子。 支持恒溫到600°C的溫度依賴性測量 OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統(tǒng)OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統(tǒng)OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統(tǒng)
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QE-5000 OTSUKA大冢-高靈敏度NIR量子效率測定系統(tǒng) OTSUKA大冢-高靈敏度NIR量子效率測定系統(tǒng)QE-5000OTSUKA大冢-高靈敏度NIR量子效率測定系統(tǒng)QE-5000OTSUKA大冢-高靈敏度NIR量子效率測定系統(tǒng)QE-5000
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DF-1000 OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統(tǒng) 快速測量透過熒光的面內(nèi)色度分布 OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統(tǒng)DF-1000OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統(tǒng)DF-1000OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統(tǒng)DF-1000
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QE-2100 OTSUKA大冢-量子效率測量系統(tǒng) OTSUKA大冢-量子效率測量系統(tǒng)QE-2100OTSUKA大冢-量子效率測量系統(tǒng)QE-2100OTSUKA大冢-量子效率測量系統(tǒng)QE-2100
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QE-2000 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)QE-2000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)QE-2000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)QE-2000
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LE series OTSUKA大冢-高速LED光學(xué)特性監(jiān)視器 是能夠使LED的光學(xué)特性評價(jià)與生產(chǎn)線的控制信號同步，在線內(nèi)高速進(jìn)行的裝置。 LE-5400提供NG判定和等級分類等質(zhì)量管理所必需的光學(xué)特性信息。OTSUKA大冢-高速LED光學(xué)特性監(jiān)視器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光學(xué)特性監(jiān)視器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光學(xué)特性監(jiān)視器LE series
