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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子半導(dǎo)體SiC測厚儀OPTM-F3，OTSUKA大塚半導(dǎo)體行業(yè)Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子半導(dǎo)體SiC測厚儀OPTM-F2，OTSUKA大塚半導(dǎo)體行業(yè)Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子顯微分光膜厚儀OPTM-F1，OTSUKA大塚半導(dǎo)體行業(yè)Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子自動XY型OPTM-A2顯微分光膜厚儀，OTSUKA大塚半導(dǎo)體行業(yè)Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子自動XY型OPTM-A1顯微分光膜厚儀，OTSUKA大塚半導(dǎo)體行業(yè)Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
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支持OLED用偏光板、層疊型相位差板、IPS液晶相位差板偏光板等各種薄膜的相位差測量裝置。 實現(xiàn)與超高 Re.60000 nm 兼容的高速、高精度測量。 可以“無剝離”和“無損”測量薄膜的層壓狀態(tài)。 此外，它配備了簡單的軟件和校正功能，支持由于樣品重新定位而導(dǎo)致的錯位，從而實現(xiàn)簡單且高精度的測量。
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它是一種可以在在線薄膜生產(chǎn)現(xiàn)場測量薄膜厚度的設(shè)備。 通過將開創(chuàng)的光譜干涉儀與新開發(fā)的高精度膜厚計算處理技術(shù)相結(jié)合，可以以 0.01 秒的測量間隔以*短的。
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除了可以進行高精度薄膜分析的光譜橢偏儀外，我們還通過實現(xiàn)測量角度的自動可變機構(gòu)來支持所有類型的薄膜。除了傳統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)式光子檢測器方法外，還通過提供相位差板的自動裝卸機構(gòu)提高了測量精度。
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它是一種緊湊且價格低廉的薄膜厚度計，通過高精度光學(xué)干涉法實現(xiàn)薄膜厚度測量，操作簡單。 我們采用一體式外殼，將必要的設(shè)備容納在主體中，實現(xiàn)穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。 可以通過以低廉的價格獲得優(yōu)良反射率來分析光學(xué)常數(shù)。
