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OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀ELSZ-2000S

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OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀ELSZ-2000ZS

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OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀SAQLA

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OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀 ELSZneoSE

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OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀ELSZneo

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代理OTSUKA大塚電子半導體SIO測厚儀OPTM-F3

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代理OTSUKA大塚電子半導體SiC測厚儀OPTM-F2

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OTSUKA大塚電子顯微分光膜厚儀OPTM-F1代理

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OTSUKA大塚電子自動XY型OPTM-A2顯微分光膜厚儀

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OTSUKA大塚電子自動XY型OPTM-A1顯微分光膜厚儀

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Otsuka單元間隙檢測裝置RETS系列

支持從反射/透射型 LCD 封閉單元到帶彩色濾光片的空單元的各種單元
蘇州代理OTSUKA激活測量儀 RETS-100nx

支持OLED用偏光板、層疊型相位差板、IPS液晶相位差板偏光板等各種薄膜的相位差測量裝置。實現與超高 Re.60000 nm 兼容的高速、高精度測量。可以“無剝離”和“無損”測量薄膜的層壓狀態(tài)。此外，它配備了簡單的軟件和校正功能，支持由于樣品重新定位而導致的錯位，從而實現簡單且高精度的測量。
蘇州代理OTSUKA 線掃描膜厚儀在線式

它是一種可以在在線薄膜生產現場測量薄膜厚度的設備。通過將開創(chuàng)的光譜干涉儀與新開發(fā)的高精度膜厚計算處理技術相結合，可以以 0.01 秒的測量間隔以*短的。
蘇州代理OTSUKA光譜干涉晶片測厚儀SF-3

在晶圓等的研磨和拋光過程中，晶圓和樹脂的厚度以超高速和高精度非接觸式測量。
蘇州代理大冢電子光譜橢偏儀 FE-5000 / 5000S

除了可以進行高精度薄膜分析的光譜橢偏儀外，我們還通過實現測量角度的自動可變機構來支持所有類型的薄膜。除了傳統的旋轉式光子檢測器方法外，還通過提供相位差板的自動裝卸機構提高了測量精度。
蘇州代理大冢電子膜厚監(jiān)測儀FE-300

它是一種緊湊且價格低廉的薄膜厚度計，通過高精度光學干涉法實現薄膜厚度測量，操作簡單。我們采用一體式外殼，將必要的設備容納在主體中，實現穩(wěn)定的數據采集。可以通過以低廉的價格獲得優(yōu)良反射率來分析光學常數。

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