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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
它是一種相位差測量設(shè)備，可支持所有類型的膜，例如OLED偏振片，層壓相位差膜和帶IPS液晶相位差膜的偏振片。
實現(xiàn)與超高Re.60000 nm兼容的高速，高精度測量。
可以“非破壞性地不剝離”地測定膜的層疊狀態(tài)。
此外，它配備了簡單的軟件和校正功能，可支持由于樣品重新定位而導(dǎo)致的未對準(zhǔn)，從而實現(xiàn)了簡單而高度**的測量。
詳情介紹：
特殊長度
高精度測量只能通過獨特的光譜儀完成
■高精度
多高精度由波長測量實現(xiàn)
<確切原因>
的，專有的高性能的多通道光譜儀使用
它可以得到多的信息傳輸，可實現(xiàn)高**度的測量
（獲得透射率信息是約500米的波長，約50倍的其他公司的產(chǎn)品）
■寬廣的測量范圍（保留范圍：0至60000 nm）
■了解延遲波長色散形狀
超高延遲測量-超雙折射膜的高速高精度測量-
■高延遲
多層測量-各種膜的層壓狀態(tài)的無損和無損測量，不剝離-
車軸角度校正功能-即使樣品安裝未對準(zhǔn)，也可輕松，輕松地進(jìn)行測量-
■
更換樣品10次，并比較有無角度校正的結(jié)果[樣品：相差膜R85]
簡單的軟件-大大減少了測量時間和處理時間。大大提高了可操作性-
- 產(chǎn)品信息
- 規(guī)格
- 光學(xué)系統(tǒng)
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