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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
它是一種可以在薄膜生產(chǎn)現(xiàn)場在線測量薄膜厚度的設(shè)備。
通過將開創(chuàng)的光譜干涉技術(shù)與新開發(fā)的高精度膜厚計算處理技術(shù)相結(jié)合，可以以至少0.01的測量間隔測量寬度為500mm（使用一臺時）的膜厚秒。
詳情介紹：
- 采用線掃描方式，實現(xiàn)全尺寸薄膜檢測，無“遺漏”
- 只有專門從事膜厚測量的制造商才能提供的**支持
- 可以進行高速高精度的測量
- 使用抗抖動的光學(xué)系統(tǒng)
- 寬樣品（TD方向*大可測量10m）
- 硬件和軟件的原創(chuàng)設(shè)計
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