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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測量系統(tǒng) ELSZneo
OTSUKA大塚 膜厚監(jiān)測儀FE-300
詳情介紹：
產(chǎn)品信息
特征
- 兼容從薄膜到厚膜的各種薄膜厚度
- 使用反射光譜分析薄膜厚度
- 緊湊、低成本、非接觸式、無損和高精度測量
- 易于設(shè)置條件和測量操作！ 任何人都可以輕松測量薄膜厚度
- 峰谷法、頻率分析法、非線性*小二乘法、優(yōu)化法等可實現(xiàn)多種薄膜厚度測量
- 非線性*小二乘膜厚分析算法可實現(xiàn)光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：衰減計數(shù)）
測量項目
- **反射率測量
- 薄膜厚度分析（10層）
- 光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：衰減計數(shù)）
測量對象
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功能膜、塑料：
透明導(dǎo)電膜（ITO、銀納米線）、阻滯膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、膠粘劑、膠粘劑、保護(hù)膜、硬涂層、防指紋劑等。 -
半導(dǎo)體 化合物半導(dǎo)體
、硅、氧化膜、氮化物膜、抗蝕劑、碳化硅、砷化鎵、氮化鎵、鎵、藍(lán)寶石等 -
表面處理
DLC涂層、防銹劑、防霧劑等 -
光學(xué)材料
濾光片、增透膜等 -
FPD
液晶顯示器（CF，ITO，LC，PI），OLED（有機(jī)膜，密封膠）等。 -
其他
硬盤、磁帶、建筑材料等
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