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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測量系統(tǒng) ELSZneo
OTSUKA大塚 嵌入式膜厚監(jiān)測儀
詳情介紹：
測量示例
硬涂層膜厚分析
特征
- 使用光譜干涉測量的薄膜測厚儀
- 搭載高精度FFT薄膜厚度分析引擎（磚利第4834847號）
- 光纖可以自由地構(gòu)建測量系統(tǒng)。
- 可集成到各種制造設(shè)備中
- 可進(jìn)行實時薄膜厚度測量
- 支持遠(yuǎn)程操作和多點測量
- 采用長壽命、高穩(wěn)定性白光LED光源
測量項目
- 薄膜厚度
用法
- 光學(xué)膜（硬涂層、AR膜、ITO等）
- FPD相關(guān)（抗蝕劑，SOI，SiO2等）
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