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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.

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產品名稱：OTSUKA大塚江蘇代理顯微分光膜厚儀OPTM SERIES
產品型號：
產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理OTSUKA大塚顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 測量各種薄膜，晶圓，光學材料等涂層薄膜的厚度，以及多層薄膜的厚度，而不會具有破壞性和非接觸性。

詳情介紹：

OTSUKA大塚顯微分光膜厚儀OPTM SERIES

OPTM顯微分光膜厚儀是FE-3000反射分光膜厚計的**代產品。OPTM沿用分光干涉法，可測量**反射率、多層膜厚、折射率和消光系數，納米級測量，精度高。OPTM可用于FPD構件（PI膜、ITO膜、CF膜）、光觸媒、汽車零件DLC膜、半導體材料氧化層、光學材料薄膜等材料的無損非接觸式測量，檢測時間僅需1秒。

產品特點：

·非接觸非破壞式測量

·高速拍攝自動對焦，1秒即可得到結果

·波長范圍廣（紫外-近紅外），可測量厚度或顏色不同的各種薄膜

·操作簡單，無經驗也可輕松解析光學常數

·開放而**的操作臺，光柵傳感器觸發(fā)停止，避免損傷。

產品參數：

	OPTM-A1	OPTM-A2	OPTM-A3
波長範圍	230 ~ 800 nm	360 ~ 1100 nm	900 ~ 1600 nm
膜厚範圍	1nm ~ 35μm	7nm ~ 49μm	16nm ~ 92μm
測定時間	1秒 / 1點
光徑大小	10μm (*小約5μm)
感光元件	CCD	InGaAs
光源規(guī)格	氘燈+鹵素燈	鹵素燈
電源規(guī)格	AC100V±10V 750VA（自動樣品臺規(guī)格）
尺寸	555(W) × 537(D) × 568(H) mm (自動樣品臺規(guī)格之主體部分)
重量	約 55kg（自動樣品臺規(guī)格之主體部分）

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