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OTSUKA大塚電子VR行業(yè)相位差膜RETS-100nx
日期：2025-04-28 10:48
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摘要：OTSUKA大塚電子相位差膜RETS-100nx 是一種延遲測(cè)量設(shè)備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。
實(shí)現(xiàn)超高Re.60000nm的高速、高精度測(cè)量。
薄膜的層壓狀態(tài)可以通過(guò)“無(wú)剝離、無(wú)損”進(jìn)行測(cè)量。
此外，它還配備了簡(jiǎn)單的軟件和校正功能，通過(guò)重新放置樣品來(lái)糾正偏差，從而輕松實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。
OTSUKA大塚電子相位差膜RETS-100nx 是一種延遲測(cè)量設(shè)備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。
實(shí)現(xiàn)超高Re.60000nm的高速、高精度測(cè)量。
薄膜的層壓狀態(tài)可以通過(guò)“無(wú)剝離、無(wú)損”進(jìn)行測(cè)量。
此外，它還配備了簡(jiǎn)單的軟件和校正功能，通過(guò)重新放置樣品來(lái)糾正偏差，從而輕松實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。
*適合光學(xué)薄膜的偏振特性評(píng)估，如延遲（雙折射相位差）的波長(zhǎng)色散評(píng)估、方向角（光學(xué)軸）和粘合角度的自動(dòng)檢測(cè)
詳細(xì)介紹一下RETS-100 和 RETS-100nx
特點(diǎn)
探測(cè)器采用多通道光譜儀，可在任意波長(zhǎng)下進(jìn)行高精度延遲（雙折射相位差）測(cè)量。
- 通過(guò)選擇傾斜和旋轉(zhuǎn)階段（可選），可以進(jìn)行視角表征，如三維折射率參數(shù)分析。
- 根據(jù)測(cè)量對(duì)象，可以構(gòu)建自由樣品階段。
- 微距離（0.1nm*）可以**測(cè)量。
測(cè)量項(xiàng)目
- 延遲（雙折射相位差）
- 延遲（雙折射相位差）的波長(zhǎng)色散
- 樣品傾角
- 方位角和橢圓率
- 偏振度測(cè)量
- 光譜測(cè)量
- 色度測(cè)量
- 三維折射率參數(shù)分析
- 海茲*
- 光彈性*
應(yīng)用
- 光學(xué)膜相位差膜、橢圓膜、相位差板偏振膜、附加功能偏振膜、偏振板
- 液晶材料、液晶電池偏振測(cè)量偏振光學(xué)元件、單元（TN、STN、IPS、VA、OCB）
光學(xué)系
