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Stucchi思多奇
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NITTO KOHKI日...
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Sankei
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KYOWA協(xié)和工業(yè)
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SIGMAKOKI西格瑪...
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- SSD西西蒂
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打印機(jī)
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- OTSUKA大冢電子
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- EYE巖崎
- KOSAKA小坂
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SAGADEN嵯峨電機(jī)
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- Yamato雅馬拓
- sanko三高
- SEN特殊光源
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SENSEZ 靜雄傳感器
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- FUJICON富士
- SANKO山高
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Sugiyama杉山電機(jī)
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Osakavacuum大...
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YAMARI 山里三洋
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- KEM京都電子
- imao今尾
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山里YAMARI
- SND日新
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Otsuka大塚電子
- kotohira琴平工業(yè)
- YAMABISHI山菱
- OMRON歐姆龍
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- UNILAM優(yōu)尼光
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氙氣閃光燈
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UV反轉(zhuǎn)曝光系統(tǒng)
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UV的水處理
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檢測系統(tǒng)
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光照射裝置
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點(diǎn)光源曝光
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變壓型電源供應(yīng)器
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超高壓短弧汞燈
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UV光洗凈
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UV曝光裝置
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uv固化裝置
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紫外可見光光度計(jì)
UENOSEIKI上野精機(jī)株式會社:半導(dǎo)體設(shè)備

UENOSEIKI上野精機(jī)株式會社:半導(dǎo)體設(shè)備自1972年3月創(chuàng)業(yè)以來,一直以半導(dǎo)體制造裝置的開發(fā)、設(shè)計(jì)、制造、銷售、維護(hù)為一體的系統(tǒng),作為支撐半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的個性企業(yè)持續(xù)成長。我們經(jīng)常注意的是,提供“對顧客有魅力的商品”、“讓顧客滿意的服務(wù)”、“讓顧客放心的支持體制”。
為了提高這三個要素,我們認(rèn)為作為組織,提出以個人為單位的明確目標(biāo),向“**”反復(fù)挑戰(zhàn)是我們的使命。
“讓顧客感動!”為了實(shí)現(xiàn)這句話,UENOSEIKI上野精機(jī)株式會社:半導(dǎo)體設(shè)備將以工程師之間一脈相承的本公司獨(dú)特的技術(shù)訣竅和豐富的想象力,向世界送出能夠滿足顧客需求的商品,同時為了舒適地利用本公司的商品的支援·服務(wù)體制更加充實(shí)。
并且,活用到現(xiàn)在為止的實(shí)際成果和經(jīng)驗(yàn),作為更能挑戰(zhàn)的提案型企業(yè),為了能遵從大家的期待,今后我們也會努力,邁進(jìn)。無論如何,今后也請多多指導(dǎo)和關(guān)照。
UENOSEIKI上野精機(jī)株式會社:半導(dǎo)體設(shè)備

2020年,日本移動通信將進(jìn)入5G時代。通信速度大幅上升,各種各樣的東西與通信網(wǎng)絡(luò)相連的近未來的社會(IoT)即將到來。
與此同時,智能手機(jī)、智能手表、智能玻璃、汽車等我們身邊的產(chǎn)品正在急速進(jìn)化,預(yù)計(jì)上野精機(jī)對高品質(zhì)半導(dǎo)體、電子零件檢查裝置的需求將進(jìn)一步提高。
我們以“NEXT ONE~頑強(qiáng)的挑戰(zhàn)~”為口號,向著新時代不斷進(jìn)化。
UENOSEIKI上野精機(jī)株式會社:半導(dǎo)體設(shè)備

UENOSEIKI上野精機(jī)株式會社:半導(dǎo)體設(shè)備
測試激光
標(biāo)記生產(chǎn)性產(chǎn)品尺寸詳細(xì)信息
LT-evo
零件
進(jìn)紙器
管,管
(option)
磁帶&
卷盤
6面檢查
可能的
option
70000
UPH
0.4x0.2mm
~
TO-220
詳細(xì)信息
LT36
零件
進(jìn)紙器
管,管
(option)
磁帶&
卷盤
6面檢查
*多16個同測
option
測試時間
根據(jù)同一測量
0.4x0.2mm
~
TO-220
詳細(xì)信息
LT-Hot
零件
進(jìn)紙器
管,管
(option)
磁帶&
卷軸
Bin
6面檢查
常溫
高溫試驗(yàn)
option
溫度,測試
根據(jù)時間
0.4x0.2mm
~
TO-220
詳細(xì)信息
RT
晶片
6,8,12”
磁帶&
卷盤
6面檢查
(IR option)
option
背面電極
雙面電極
option
30000
UPH
0.4x0.2mm
~
7x7mm
詳細(xì)信息
RT-Tray
晶片
6,8,12”
托盤
(JEDEC)
(Waffle)
6面檢查
(透明體內(nèi)部
也可以檢查)
的下界
的下界
20000
UPH
1x1mm
~
10x10mm
詳細(xì)信息
RT-Wafer
晶片
6,8,12”
晶片
6,8”
托盤
(JEDEC)
(Waffle)
6面檢查
(透明體內(nèi)部
也可以檢查)
的下界
的下界
20000
UPH
0.5×0.5 mm
~
10x10mm
詳細(xì)信息
RS-evo
晶片
6,8,12”
磁帶&
卷盤
6面檢查
(IR option)
option
option
70000
UPH
0.4x0.2mm
~
10x10mm
詳細(xì)信息
RST
晶片
6,8,12”
磁帶和卷軸
(帶寬單點(diǎn)切換option)
6面檢查
(IR option)
option
option
50000
UPH
0.4x0.2mm
~
12×12 mm
詳細(xì)信息
RV-evo
晶片
6,8”
磁帶&
卷盤
6面檢查
(IR option)
的下界
的下界
60000
UPH
0.4x0.2mm
~
7x7mm
詳細(xì)信息
TS-evo
晶片
8,12”
磁帶&
卷盤
6面檢查
(IR option)
option
option
50000
UPH
0.4x0.2mm
~
12×12 mm
詳細(xì)信息
WS-evo
晶片
12,8”
晶片
12,8”
6面檢查
(IR option)
的下界
的下界
24000
UPH
0.4x0.2mm
~
15x15mm
詳細(xì)信息
RP124
晶片
6,8”
晶片
6,8”
6面檢查
(IR option)
電氣測試
在工作空間的邊緣
光學(xué)測試
雙面電極
的下界
24000
UPH
0.4x0.2mm
~
7x7mm
詳細(xì)信息
RV320
晶片
6,8”
磁帶&
卷盤
(正反反轉(zhuǎn))
6面檢查
(IR option)
電氣測試
在工作空間的邊緣
光學(xué)測試
的下界
24000
UPH
0.4x0.2mm
~
7x7mm
詳細(xì)信息
RHR-evo
晶片
6,8,12”
零件進(jìn)料器打開
磁帶和卷軸
管,管
6面檢查
常溫→高溫→常溫測試
option
24000
UPH
1x1mm
~
8x8mm
詳細(xì)信息
LV-evo
托盤
(Waffle)
※JEDEC option
零件進(jìn)料器打開
托盤
(Waffle)
※JEDEC option
6面檢查
的下界
的下界
36000
UPH
0.4x0.2mm
~
10x10mm
詳細(xì)信息
TR-Tray
托盤
(JEDEC)
(Waffle)
托盤
(JEDEC)
(Waffle)
6面檢查
(IR option)
的下界
option
36000
UPH
1x1mm
~
15x15mm
詳細(xì)信息
TR-Tape
托盤
(JEDEC)
(Waffle)
磁帶&
卷盤
6面檢查
(IR option)
option
option
36000
UPH
1x1mm
~
15x15mm