大冢電子以“大冢人創(chuàng)造新產(chǎn)品，改善全球健康”為企業(yè)理念，開發(fā)、制造和銷售醫(yī)學(xué)、測量、物理和化學(xué)領(lǐng)域的設(shè)備和設(shè)備，作為一家用光診斷事物的公司。

繼承大冢集團的DNA“示范與創(chuàng)造”，我們每天都在努力實踐“只有大冢才能做到的”和“只有大冢能做到的”。 大冢電子將繼續(xù)通過**和創(chuàng)造性的產(chǎn)品（設(shè)備）和服務(wù)，在健康和生活領(lǐng)域支持世界各地人們的生活。

ME設(shè)備

紅外光譜儀 POConePlus

分立式臨床生化分析儀 Hemotect NS-Prime

熒光**層析掃描儀 DiaScan α

血細胞去除系統(tǒng) Adamonitor SC

分析儀器

Zeta 電位和粒度測量系統(tǒng) ELSZneoSE

Zeta 電位、粒徑和分子量測量系統(tǒng) ELSZneo

多分析物納米粒度測量系統(tǒng)nanoSAQLA（帶自動進樣器AS50）

多分析物納米粒徑測量系統(tǒng)nanoSAQLA

聚合物相結(jié)構(gòu)分析系統(tǒng)PP-1000

動態(tài)光散射光度計 DLS-8000系列

動態(tài)光散射光度計DLS-6500系列

高靈敏度示差折光儀DRM-3000

毛細管電泳系統(tǒng) Agilent 7100

儀表

光波場三維顯微鏡 MINUK

顯微光譜涂層測厚儀 OPTM series

線掃描膜測厚儀®[直列式]

線掃描膜厚儀®[離線型]

多通道光譜儀 MCPD-9800/6800

MCPD系列嵌入式測厚頭

MCPD系列在線薄膜評估系統(tǒng)

延遲測量儀 RETS-100NX

OPTM系列嵌入式頭型

光譜干涉晶圓測厚儀SF-3

涂層厚度監(jiān)測儀 FE-300F

內(nèi)置涂層厚度監(jiān)測儀

橢偏光譜儀 FE-5000 series

高靈敏度分光輻射計 HS-1000

總光通量測量系統(tǒng) HM/FM series

分光光度測量系統(tǒng) GP series

光譜輻照度測量系統(tǒng)

量子效率測量系統(tǒng)QE-2100

高速LED光學(xué)特性監(jiān)測儀LE系列

彩色濾光片光譜分析儀 LCF series

電芯間隙檢測系統(tǒng) RETS series

高速延遲測量儀RE-200

高靈敏度近紅外量子效率測量系統(tǒng)QE-5000

用于透射率和吸光度測量應(yīng)用的多通道光譜儀 MCPD系列

用于反射測量應(yīng)用的多通道光譜儀 MCPD series

用于發(fā)光和熒光應(yīng)用的多通道光譜儀 MCPD系列

用于顏色測量應(yīng)用的多通道光譜儀 MCPD series

用于涂層厚度測量應(yīng)用的多通道光譜儀 MCPD系列

單顆粒熒光診斷系統(tǒng)

量子點評估系統(tǒng)

加載端口兼容膜厚測量系統(tǒng) GS-300

超快光譜干涉測厚儀

紫外分光總輻射通量測量系統(tǒng)

紫外光譜分布測量系統(tǒng)

紫外光譜輻照度測量系統(tǒng)

紫外光譜儀