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它是一種延遲測(cè)量設(shè)備，支持所有類(lèi)型的薄膜，例如用于 OLED 的偏光板、層壓延遲膜和帶有 IPS 液晶延遲膜的偏光板。 實(shí)現(xiàn)與超高Re.60000 nm兼容的高速、高精度測(cè)量。 可以“無(wú)損、無(wú)剝離”地測(cè)量薄膜的層壓狀態(tài)。 此外，它還配備了簡(jiǎn)單的軟件和校正功能，支持因樣品重新定位而導(dǎo)致的錯(cuò)位，可輕松實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。
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可以基于與 NIMS 共同開(kāi)發(fā)的單粒子診斷方法* 進(jìn)行測(cè)量。 * 與國(guó)立材料科學(xué)研究所、弘前直人研究員和武田隆研究員聯(lián)合研究
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可以立即測(cè)量?jī)?yōu)良量子效率（優(yōu)良量子產(chǎn)率）。與粉末、溶液、固體（薄膜）和薄膜樣品兼容。低雜散光多通道光譜檢測(cè)器大大減少了紫外區(qū)的雜散光。此外，通過(guò)采用積分半球單元，可以實(shí)現(xiàn)明亮的光學(xué)系統(tǒng)，并通過(guò)利用這一點(diǎn)重新激發(fā)熒光校正，可以進(jìn)行高精度的測(cè)量。此外，QE-2100 能夠測(cè)量量子效率的溫度依賴(lài)性，并支持從紫外到近紅外的寬波長(zhǎng)范圍。
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它是一種可以與生產(chǎn)線(xiàn)的控制信號(hào)同步，高速在線(xiàn)評(píng)估 LED 光學(xué)特性的設(shè)備。 LE-5400 提供質(zhì)量控制所需的光學(xué)特性信息，例如 NG 判斷和分類(lèi)。
