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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
UDM-1200,超音波膜厚計,TEITSU帝通電子研究所.UDM-1200,超音波膜厚計,TEITSU帝通電子研究所 溫馨提示：該儀器操作簡便可單手操作，無需電源開關(guān)，使用時只需將探頭放置在被測體儀器上自動開機進行測量。如果您對我們的產(chǎn)品感興趣的話請聯(lián)系我們，可以了解更多厚度計的相關(guān)消息。
詳情介紹：
UDM-1200,超音波膜厚計,TEITSU帝通電子研究所
UDM-1200,超音波膜厚計,TEITSU帝通電子研究所
產(chǎn)品詳細介紹
UDM-1200超音波膜厚計
特征：
●各種平頂材料上厚度測量OK
變質(zhì)硅系，硅系，聚氨酯系等成分形狀的東西，2成分系也去泡了東西的話全部平頂材料上厚度測量。
●接縫底的變形的影響
備份材料澎湃接縫深度變化的場合任何測量沒有影響。另外，傾斜狀接頭深度變化的場合，底部的傾斜15度的程度的話可以測量。
●口袋的類型，攜帶方便
本體重量僅有290克輕了現(xiàn)場作業(yè)的性富，到哪里都可以輕松的攜帶。
●備份材料種類的影響
沒有備份材料債券，斷路器一、平板狀備份材，圓棒狀備份材料等全部的條件測量可能。
●測量條件的設(shè)定簡單
麥克風(fēng)口處理器內(nèi)置操作觸摸按鍵，只需按下測量條件的設(shè)定簡單地能進行。
●選擇功能
任何價值，其設(shè)定值作為基準(zhǔn)的差距可以顯示（DIF功能)。
規(guī)格以及性能：
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表示方式
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液晶數(shù)字方式
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測量方法
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脈沖反射方式（一探觸子法）
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使用周波數(shù)
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5MHz
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表示位數(shù)
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3位數(shù)
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*小單位
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0.1毫米
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測量范圍
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2.5～40毫米（平頂材料）
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誤差范圍
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±0.5毫米
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音速調(diào)整范圍
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500～9999 m / sec
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表示次數(shù)
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2次/ sec
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照明燈具
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EL背照燈方式
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自動切割
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測量中斷后，約5分鐘
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耦合標(biāo)志
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表示部馬克表示
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口―電池表示
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表示部馬克表示（BATT）
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選擇功能
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任意設(shè)定其設(shè)定值作為基準(zhǔn)的差距的表示（DIF功能）
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電源
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DC1.5 V（單3堿干電池）一書
工作時間：約30小時以上
EL照明點燈時：約20時間以上
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使用溫度范圍
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-10℃～＋50℃
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外形尺寸
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W66×H140×D28mm
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重量
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約290克探針約50克
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