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OTSUKA大冢- 高分子相結(jié)構(gòu)分析系統(tǒng)
OTSUKA大冢- 高分子相結(jié)構(gòu)分析系統(tǒng)ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 高分子相結(jié)構(gòu)分析系統(tǒng)ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 高分子相結(jié)構(gòu)分析系統(tǒng)ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 高分子相結(jié)構(gòu)分析系統(tǒng)ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 高分子相結(jié)構(gòu)分析系統(tǒng)ELSZ-2000S
使用小角光散射法，能夠?qū)崟r(shí)解析高分子和薄膜的結(jié)構(gòu)的裝置。與使用X射線和中子線的裝置相比，可以進(jìn)行更大的結(jié)構(gòu)(μm級(jí))的評(píng)價(jià)。
從使用偏振片的Hv散射測(cè)量可以對(duì)光學(xué)各向異性的評(píng)價(jià)、結(jié)晶性薄膜的球晶直徑的解析、Vv散射測(cè)量進(jìn)行聚合物混合的相關(guān)長(zhǎng)度的解析。
特長(zhǎng)：
散射角度0.2~45°的測(cè)量可*短100msec測(cè)量。
評(píng)價(jià)亞微米~數(shù)100μm的結(jié)構(gòu)。
也可以用專用的溶液池測(cè)量溶液樣品。
在軟件上輕松切換Hv散射和Vv散射測(cè)量。
臺(tái)式實(shí)驗(yàn)室。
測(cè)量項(xiàng)目:
高的分子材料估價(jià)。
-結(jié)晶膜。
·結(jié)晶化溫度、球晶徑、結(jié)晶化速度。
·配光、光學(xué)各向異性。
-聚合物混合。
·相分離過(guò)程和相關(guān)長(zhǎng)度(構(gòu)造的大小)。
→高分子凝膠。
·三維架橋構(gòu)造的大小。
-樹(shù)脂。
·熱硬化樹(shù)脂和UV硬化樹(shù)脂的硬化速度。
顆粒物性估價(jià)。
·粒子直徑、凝集速度。
測(cè)量范圍(理論值)。
球晶直徑1.3~270μm。
粒子直徑0.1~100μm。
相關(guān)長(zhǎng)度0.1~100μm.
| 型式 | 高分子相構(gòu)造解析システム |
| 測(cè)定原理 | 小角光散亂法 |
| 光源 | 半導(dǎo)體レーザ （波長(zhǎng)785nm） |
| 検出器 | CMOSカメラ |
| 測(cè)定散亂角度 | 0.2°～45° |
| 取得像 | Hv光散亂像、Vv光散亂像 |
| 測(cè)定スポット | 約1mm |
| サンプルサイズ | *大10cm角 |
| ダイナミックレンジ | 120db以上 （HDR機(jī)能使用） |
| 測(cè)定時(shí)間 | 100ms～ |
| 解析項(xiàng)目 | 球晶徑、相関長(zhǎng)、粒子徑など |
【手順】
1．サンプルステージにサンプルをセットします
2．検光子を測(cè)定したい対象に合わせて調(diào)整します。
3．サンプルからの散亂パターンがカメラに記録されます。
クロスニコル(偏光子と検光子が直交)で測(cè)定をします。
散亂體に光學(xué)異方性（複屈折）がある場(chǎng)合、散亂パターンが出現(xiàn)し、高分子の高次構(gòu)造體のサイズ、秩序性、配向の評(píng)価が出來(lái)ます。
（測(cè)定例）結(jié)晶性フィルムの球晶徑の解析
R = 4.09 / qmax
(R：球晶半徑 、qmax：散亂光強(qiáng)度が*大になる散亂ベクトル )
散亂ベクトル q = 4π n/ λ sin( θ / 2 )
(λ：媒體中での波長(zhǎng)、n：サンプル屈折率、θ：散亂角)
パラレルニコル(偏光子と検光子が平行)で測(cè)定します。
?ポリマーブレンドの相分離過(guò)程の評(píng)価
?海島構(gòu)造の大きさ(相関長(zhǎng))
?粒子徑の評(píng)価
（測(cè)定例） 相分離構(gòu)造の相関長(zhǎng)の解析
Debye-Bueche Plot
I(q) = A / (1+ξ2q2)2
(A：定數(shù)、ξ：相関長(zhǎng)、q：散亂ベクトル)
ξ = √(a / b)
(ξ：相関長(zhǎng) 、a：傾き、b：切片 )
2.如有必要,請(qǐng)您留下您的詳細(xì)聯(lián)系方式!
