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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺(tái)階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
GP series
OTSUKA大冢-分光配光測量系統(tǒng)GP seriesOTSUKA大冢-分光配光測量系統(tǒng)GP seriesOTSUKA大冢-分光配光測量系統(tǒng)GP series的裝置。
詳情介紹：
GP series
OTSUKA大冢-分光配光測量系統(tǒng)
測量照明設(shè)備配光特性的裝置。
OTSUKA大冢-分光配光測量系統(tǒng)GP seriesOTSUKA大冢-分光配光測量系統(tǒng)GP seriesOTSUKA大冢-分光配光測量系統(tǒng)GP seriesOTSUKA大冢-分光配光測量系統(tǒng)GP seriesOTSUKA大冢-分光配光測量系統(tǒng)GP series·使用本公司開發(fā)的分光器實(shí)現(xiàn)高精度測量！
·可以和配光數(shù)據(jù)一起測定顏色！
·分光測量也實(shí)現(xiàn)了與照度計(jì)類型同等的高速測量！
·根據(jù)配光測量結(jié)果可以解析照明率！！
·以規(guī)格為基準(zhǔn)的測量系統(tǒng)！
·測量標(biāo)準(zhǔn)部門的技術(shù)支持也是可能的！
能夠處理從室內(nèi)照明到投光器的各種照明設(shè)備，是滿足多功能要求的裝置。
特長：
支持高達(dá)2400毫米的LED照明設(shè)備配光測量。
支持有機(jī)EL和大型顯示器的配光測量。
自動(dòng)控制雙軸測角儀，進(jìn)行各角度的分光分布測定，通過球帶系數(shù)法可以求出分光全輻射通量和全光束以及色度、色溫等。
新型檢測器可實(shí)現(xiàn)更廣的動(dòng)態(tài)范圍測量。
支持IESNA LM-75和CIE 121。
GP-2000可同時(shí)支持TypeB和TypeC[正在申請(qǐng)**]。
也可以對(duì)應(yīng)紫外域·近紅外區(qū)域的配光測量<；option>；
能夠支持不改變照明設(shè)備的亮燈姿勢的鏡像旋轉(zhuǎn)方式(GP-4000)。
提供標(biāo)準(zhǔn)光電燈泡(JCSS)
評(píng)価項(xiàng)目
- 光度の角度分布（配光）
- 分光放射束（スペクトル）
- 色度座標(biāo)（u', v'） 〔CIE 1976UCS〕
- 色度座標(biāo)（x, y） 〔JIS Z 8724〕
- 演色性評(píng)価數(shù)（Ra, R1～R15） 〔JIS Z 8726〕
- 相関色溫度とDuv 〔JIS Z 8725〕
- 主波長（Dominant）と刺激純度（Purity） 〔JIS Z 8701〕
- IES（LM63-2002及びJIS C 8505-5準(zhǔn)拠）ファイル <option> *1
*1 IES解析ソフト［大塚電子製］は、他社の配光測定裝置で算出したIESファイルの読込?解析も可能
仕 様
| 型式 | GP-500 *1 | GP-1100 *1 | GP-2000 | GP-4000 | |||
| 光學(xué)系 *2 | 2軸ゴニオメータ |
２軸ゴニオメータ （平面鏡回転方式） |
|||||
| TypeC | TypeC | TypeB/C | TypeC | ||||
| 光路長 | 500mm以下 | 500～1500mm | 1500mm以上 | 7500mm以上 | |||
| 対応サンプル | LEDチップ |
一般照明 モジュール |
直管形光源を含む 一般照明 |
||||
| 検出器 | マルチチャンネル分光器 | ||||||
| 測定波長範(fàn)囲 *3 | 360nm～830nm | ||||||
| 評(píng)価項(xiàng)目 |
?光度の角度分布（配光） ?分光放射束（スペクトル） ?色度座標(biāo)（u', v'）〔CIE 1976UCS〕 ?色度座標(biāo)（x, y）〔JIS Z 8724〕 ?主波長（Dominant）と刺激純度（Purity）〔JIS Z 8701〕 ?相関色溫度とDuv〔JIS Z 8725〕 ?演色性評(píng)価數(shù)（Ra, R1～R15）〔JIS Z 8726〕 ?IES（LM63-2002及びJIS C 8505-5準(zhǔn)拠）ファイル <option> *4 |
||||||
*1 分光放射輝度の配光測定が可能 *2 IESNA LM-75に対応 *3 検出器の波長範(fàn)囲は選択可能
*4 IES解析ソフト［大塚電子製］は、他社の配光測定裝置で算出したIESファイルの読込?解析も可能
配光測定方法における座標(biāo)系の種類（JIS C 8105-5）
|
座標(biāo)系の 種類 |
極軸に対する傾斜角 （鉛直角） |
極軸を回転中心とする傾斜角 （水平角） |
IESNA LM-75表記 | ||||
| 角度符號(hào) | 角度範(fàn)囲 | 角度符號(hào) | 角度範(fàn)囲 | ||||
| αβ座標(biāo)系 | α | -90° ≦ α ≦ 90° | β | -180° ≦ β ＜ 180° | Type B | ||
| θφ座標(biāo)系 | θ | 0° ≦ θ ≦ 180° | θ | 0° ≦ φ ＜ 360° | Type C | ||
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