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UV曝光裝置
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紫外可見光光度計
OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng)
紫外光源和光學(xué)材料的配光的裝置.。
·實現(xiàn)顛覆配光測定常識的測定時間10分鐘！
·1次測定可以捕捉到所有空間的照度！
·通過近場配光測定取得光線數(shù)據(jù)！
通過一臺紫外光源的配光測量，
是能廣泛地評價材料的光學(xué)特性的裝置.
特長:
與傳統(tǒng)方法相比，測量速度顯著縮短(大約10分鐘)。
一次測量，計算各種條件下的測量結(jié)果。
通過在暗箱內(nèi)設(shè)置，不需要暗室設(shè)備。
能夠算出任意位置·距離的照度·光度(*短1mm~)。
測試項目:
亮度光線數(shù)據(jù)。
照度、光度和光域數(shù)據(jù)
用途:
用樹脂硬化光源。
UV-LED芯片、封裝、模塊。
光學(xué)材料，如鏡頭和反射器
仕様
OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 300UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 300UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 300UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 300UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 300UV
測定例
ブラックライト用のUV-LEDライトの測定例です。
ニアフィールド配光の測定結(jié)果を解析することでデジタル値はもちろん、
3Dでの配光パターンを描畫し、配光特性を３次元的に確認(rèn)することができます。
電子デバイスの樹脂硬化用に使うUV光源の測定例です。
測定結(jié)果から、斜に光源を配置して照射したときの放射照度分布を
後解析で取得できます。
2.如有必要,請您留下您的詳細(xì)聯(lián)系方式!
