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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
GC-1
OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器
實現(xiàn)真正的黑屏！
把黑色的差異數(shù)值化。
OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1
詳情介紹：
QE-2000QE-5000OTSUKA大冢-單元間隙檢查設(shè)備GC-1
OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器
OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器
特長
1億對1高對比度測量(min.2×10-5 cd/m2，max.2 x 103 cd/m2)。
輔助千兆位對比度的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差小于3%。
黑亮度調(diào)光測量。
實現(xiàn)3秒的高速測量。
可在方便的暗室內(nèi)進(jìn)行測量。
專門構(gòu)建。
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測量主題
顯示設(shè)備(LCD、PDP、有機EL面板等)。
測量項目
對比度測量。
簡易的輝度測量
仕 様
| サンプルサイズ | 3.5インチ以上 |
| 測定範(fàn)囲 |
コントラスト：1～1億 輝度：2×10-5 ～ 2×103 cd/m2 |
| 測定時間 | 約3秒 （測定1回あたり） |
測定畫面
裝置構(gòu)成
測定例
400 cd/m2 を*大値とした時の直線性確認(rèn)
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