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OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射光度計
是從低亮度到高亮度,可以進(jìn)行高速·高精度的測量的分光放射輝度計。
使用電子冷卻線性陣列傳感器,通過大冢電子獨有的分光光學(xué)設(shè)計和信號處理電路,在大亮度范圍和波長范圍內(nèi)進(jìn)行低噪聲、高精度測量實現(xiàn)
OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射光度計HS-1000OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射光度計HS-1000OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射光度計HS-1000OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射光度計HS-1000OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射光度計HS-1000
采用高亮度、色度精度的分光方式(光柵)。
測量范圍從0.005cd/m2的超低亮度到400,000cd/m2的亮度。
適用于CIE建議的寬波長范圍(355 nm到835 nm)。
通過****的光學(xué)系統(tǒng)減少偏振誤差(<;1%),將偏振特性(如LCD)。
即使是持有的試料也可以高精度地測量。
包括通信時間在內(nèi),可以進(jìn)行*短1秒的高速測定。
(在連續(xù)測量的情況下,*短約20msec/次,可以進(jìn)行更快的測量。)。
與不改變測定角的寬廣亮度范圍相對應(yīng)。
(測量角2?時,0.005cd/m2~4,000cd/m2)。
能夠高精度地對頻率點亮光源進(jìn)行穩(wěn)定測定。
(通過點亮頻率輸入,自動將曝光時間設(shè)定為亮燈周期的整數(shù)倍)。
對應(yīng)響應(yīng)測定的產(chǎn)品也在系列中。※。
也可以與顏色看到的模型“CIECAM02規(guī)格”相對應(yīng)的輸出。※。
與“CIE200:2011標(biāo)準(zhǔn)”兼容的“CIE200:2011標(biāo)準(zhǔn)”
可以。※
測量項目
-輻照度(W/sr/m2)-色域(NTSC比)*1。
-亮度(cd/m2)-響應(yīng)時間*2。
-色度坐標(biāo)xy[符合CIE1931]-亮度(J)*3。
-色度坐標(biāo)U‘V’[符合CIE1976標(biāo)準(zhǔn)]-亮度(Q)*3。
-色度坐標(biāo)U‘V’[CIE1976兼容]-飽和度(s)*3。
-相關(guān)色溫-色度(C)*3。
-CIE表色系2?/10?-彩色(M)*3。
-刺激值XYZ-等效亮度*4。
-偏差。
-分光數(shù)據(jù)的四則運算。
-分光數(shù)據(jù)的函數(shù)處理。
*1可選*2使用HS-1000RT*3符合CIECAM02標(biāo)準(zhǔn)。
*4 CIE200:符合2011標(biāo)準(zhǔn)
用途
LCD、PDP、有機EL和大型LED顯示屏。
分光數(shù)據(jù)、亮度、色度、相關(guān)色溫測定。
燈等照明光源的分光數(shù)據(jù)、亮度、色度、相關(guān)色溫測定。
作為各種亮度·色度測定器的基準(zhǔn)器。
通過非接觸測量物體的色彩
型式 | HS-1000 |
測色方式 | 分光方式 |
測定波長範(fàn)囲 | 355nm ~ 835nm |
測定角 | 0.1゜,0.2゜,1゜,2゜ |
測定距離 *1 | 240mm ~ ∞ |
*小測定スポット徑 |
測定角 2゜:約 10.0mm以下 測定角 1゜:約 5.0mm以下 測定角 0.2゜:約 1.0mm以下 測定角 0.1゜:約 0.5mm以下 |
輝度確度 | ±2% |
色度確度 | ±0.002以下 |
本體?重量 | 187(W) × 249(H) ×400(D) mm 以下, 約 7.5 kg 以下 |
*1 対物レンズユニットの先端からの距離
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ユーザーインターフェースソフトウェアは、1ボタン測定の簡単モードと、
任意に測定條件を変更可能なエキスパートモード - のどちらかに切り替えて使用可能。
- 取得したデータの演算値を一覧表で確認(rèn)可能
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取得したスペクトル同士の四則演算、スペクトルと定數(shù)の四則演算、
取得したスペクトルの関數(shù)処理も標(biāo)準(zhǔn)ソフトウェアで対応可能
1ボタンで減光機能も含めた自動露光調(diào)整、ダーク測定、測定、演算、演算結(jié)果表示と全てが
実行可能
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色域自動測定機能
- 信號発生器(オプション)との連動によりディスプレイの色再現(xiàn)範(fàn)囲(NTSC比)を
自動的に測定 -
応答速度測定機能付きモデル(HS-1000RT)
- HS-1000の機能に加えてディスプレイの応答速度測定が可能
- 応答速度測定結(jié)果からの動畫応答シミュレーションが可能
2.如有必要,請您留下您的詳細(xì)聯(lián)系方式!