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  • 產(chǎn)品詳情
    • 產(chǎn)品名稱:多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)NANOSAQLA

    • 產(chǎn)品型號:多檢體NANO粒徑測量系統(tǒng)
    • 產(chǎn)品廠商:OTSUKA大塚電子
    • 產(chǎn)品價格:0
    • 折扣價格:0
    • 產(chǎn)品文檔:
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    簡單介紹:
    多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)NANOSAQLA 界達電位ELSZ 多檢體NANO粒徑測量系統(tǒng) 多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)NANOSAQLA
    詳情介紹:

    特點

    只需一臺,輕松實現(xiàn)5檢體連續(xù)測量
    低濃度到高濃度都可對應(yīng)
    高速測量,標準時間1分鐘
    搭載了簡單的測量功能 (1鍵測量)
    內(nèi)置非浸泡型的cell block,無分注夾雜物
    搭載溫度梯度功能

    多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLa

    測量范圍(理論值)

    粒徑 0.6nm~10μm
    濃度范圍 0.00001~40%
    溫度范圍 0~90℃*


    仕樣

    型號 多檢體NANO粒徑測量系統(tǒng)
    測量原理 動態(tài)光散射法
    光源 高出力半導(dǎo)體激光*1
    檢出器 高感光度APD
    連續(xù)測量 5檢體
    測量范圍 0.6nm ~ 10μm
    對應(yīng)濃度 0.00001 ~ 40% *2
    溫度 0 ~ 90℃ (有溫度梯度功能) *3
    規(guī)格 遵照 ISO 22412:2017
    遵照JIS Z 8828:2013
    遵照JIS Z 8826:2005
    尺寸 W240 X D480 X H375 mm
    重量 約18 kg
    軟件 平均粒徑解析 (累積法解析)
    粒度分布解析
    (Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法)
    粒度分布疊寫
    逆相關(guān)函數(shù)?殘差plot
    粒徑monitor
    粒徑顯示范圍 (0.1 ~ 106 nm)
    分子量計算功能


    *1 根據(jù)激光**基準 (JIS C6802)級別區(qū)分,本儀器的**級別為1級。
    *2 Latex120nm:0.00001 ~ 10%、牛黃膽酸:~40%
    *3 標準glass cell的批量測量的情況。
    一次性cell或連續(xù)測量時, 15 ~ 40℃ (不對應(yīng)溫度梯度)

    測量范例

    01.png


    a02.jpg


    03.png


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