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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測(cè)厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測(cè)器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺(tái)階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無(wú)塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽(yáng)電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
高精度控制光軸！3σ≤0.02°用于
低延遲測(cè)量
詳情介紹：
特殊長(zhǎng)度
- 可以從0 nm開始進(jìn)行低（殘留）延遲測(cè)量
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可以與光軸檢測(cè)同時(shí)進(jìn)行延遲（Re。）的高速測(cè)量（
可以在0.1秒或更短的時(shí)間內(nèi)完成處理，這相當(dāng)于世界上*快的速度）。 - 由于沒有驅(qū)動(dòng)單元，因此可實(shí)現(xiàn)高重復(fù)性
- 易于測(cè)量，只需設(shè)置很少的測(cè)量項(xiàng)目
- 除了550 nm的測(cè)量波長(zhǎng)外，我們還有各種波長(zhǎng)的產(chǎn)品系列。
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可以進(jìn)行Rth測(cè)量和全向測(cè)量
（需要可選的自動(dòng)旋轉(zhuǎn)傾斜夾具） -
通過與拉伸測(cè)試儀結(jié)合使用，可以與薄膜的偏振特性同時(shí)評(píng)估光彈性
（該系統(tǒng)是定制的）。
測(cè)量項(xiàng)目
- 參考（ρ[°]，Re [nm]）
- 主軸方位角（θ°）
- 橢圓率（ε）/方位角（γ）
- 三維折射率（NxNyNz）
測(cè)量目標(biāo)
- 相差膜，偏光膜，橢圓膜，視角改善膜，各種功能膜
- 透明和各向異性的物質(zhì)，例如樹脂和玻璃（玻璃中的應(yīng)變，變形等）
- 產(chǎn)品信息
- 原則
- 規(guī)格
- 測(cè)量例
相關(guān)信息
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反射光譜膜厚儀FE-3000 |
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光譜橢偏儀FE-5000 / 5000S |
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多通道光譜儀MCPD-9800 / 6800 |
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量子效率測(cè)量系統(tǒng)QE-2000 / 2100 |
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