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簡單介紹：
它是一種可以使用小角度光散射方法在原位實時分析聚合物和薄膜結(jié)構(gòu)的設(shè)備。與使用 X 射線或中子的設(shè)備相比，可以評估更大的結(jié)構(gòu)（微米級）。
詳情介紹：
它是一種可以使用小角度光散射方法在原位實時分析聚合物和薄膜結(jié)構(gòu)的設(shè)備。與使用 X 射線或中子的設(shè)備相比，可以評估更大的結(jié)構(gòu)（微米級）。
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