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產(chǎn)品中心

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產(chǎn)品詳情

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產(chǎn)品名稱：OTSUKA多檢體納米粒徑量測系統(tǒng) nanoSAQLA
產(chǎn)品型號：
產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
產(chǎn)品價格：0
折扣價格：0
產(chǎn)品文檔：

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簡單介紹：

一臺5檢體輕松連續(xù)量測一鍵測定簡易功能對應低濃度到高濃度標準測定時間一分高速測定非浸入式、非分注式連續(xù)量測搭載溫度梯度(0 ~ 90℃) 對應多國語言操作介面(繁體中文、日文、英文、簡體中文、韓文

詳情介紹：

規(guī)格

模型	多樣品納米粒徑測量系統(tǒng)
測量原理	動態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）
光源	高功率半導體激光器（660nm，70mW）^*1
探測器	高靈敏度 APD
連續(xù)測量	*多 5 個樣本
測量范圍	0.6nm ~ 10μm
濃度范圍	0.00001-40% ^{* 2}
溫度范圍	0～90℃（帶溫度梯度功能）^*3
樣品容量	方形池：1.2 mL ~，微量池：20 μL ~
尺寸	W240 X D480 X H375 毫米
能量消耗	交流 100-240V 50 / 60Hz, 250VA
重量	約 18 公斤
軟件	平均粒徑分析（累積法）
	粒度分布分析（Marquardt法/Contin法/NNLS/單峰法）
	粒度分布改寫
	逆相關(guān)函數(shù)/殘差圖
	粒度監(jiān)視器
	粒徑顯示范圍（0.1 至¹⁰⁶ nm）
	分子量計算功能
	21 CFR Part 11 兼容^{* 4}
選項	微量池（兼容 20 μL），熒光截止濾光片