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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測(cè)厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測(cè)器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺(tái)階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無(wú)塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛(ài)睦威地震儀、HOKUYO北陽(yáng)電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
它是一種緊湊且價(jià)格低廉的薄膜厚度計(jì)，通過(guò)高精度光學(xué)干涉法實(shí)現(xiàn)薄膜厚度測(cè)量，操作簡(jiǎn)單。
我們采用一體式外殼，將必要的設(shè)備容納在主體中，實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。
可以通過(guò)以低廉的價(jià)格獲得優(yōu)良反射率來(lái)分析光學(xué)常數(shù)。
詳情介紹：
產(chǎn)品信息
特殊長(zhǎng)度
- 支持從薄膜到厚膜的各種膜厚
- 使用反射光譜的薄膜厚度分析
- 實(shí)現(xiàn)非接觸、非破壞的高精度測(cè)量，同時(shí)緊湊且價(jià)格低廉
- 簡(jiǎn)單的條件設(shè)置和測(cè)量操作！任何人都可以輕松測(cè)量薄膜厚度
- 可以通過(guò)峰谷法、頻率分析法、非線性*小二乘法、優(yōu)化法等進(jìn)行多種薄膜厚度測(cè)量。
- 通過(guò)非線性*小二乘膜厚分析算法可以進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光計(jì)數(shù)）。
測(cè)量項(xiàng)目
- 優(yōu)良反射率測(cè)量
- 膜厚分析（10層）
- 光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光計(jì)數(shù)）
測(cè)量對(duì)象
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功能膜、塑料
透明導(dǎo)電膜（ITO、銀納米線）、相位差膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、粘合劑、粘合劑、保護(hù)膜、硬涂層、防指紋， 等等。 -
半導(dǎo)體
化合物半導(dǎo)體、Si、氧化膜、氮化膜、Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、藍(lán)寶石等 -
表面處理
DLC涂層、防銹劑、防霧劑等 -
光學(xué)材料
濾光片、AR涂層等 -
FPD
LCD（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有機(jī)膜、灌封膠）等 -
其他
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硬盤驅(qū)動(dòng)器、磁帶、建筑材料等。
規(guī)格
規(guī)格類型 薄膜型 標(biāo)準(zhǔn)型 測(cè)量波長(zhǎng)范圍 300-800nm 450-780nm 測(cè)量膜厚范圍
（SiO 2換算）3nm-35μm 10nm-35μm 光斑直徑 φ3mm / φ1.2mm 樣本量 φ200 × 5 (H) mm 測(cè)量時(shí)間 0.1-10s內(nèi) 電源 AC100V ± 10% 300VA 尺寸、重量 280 (W) x 570 (D) x 350 (H) 毫米，24 公斤 其他 參考板，配方創(chuàng)建服務(wù) 設(shè)備配置
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