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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺(tái)階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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紫外可見光光度計(jì)
產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
Resolv4K鏡頭不僅設(shè)計(jì)用于**的可見光波長軸向色彩校正，而且通過可見光，Vis-NIR（可見光到近紅外）和SWIR選項(xiàng)顯著提高波長聚焦能力。更大光圈的鏡頭附件顯著增加了同軸照明選項(xiàng)的可用視場。
詳情介紹：
- 可見光選項(xiàng)可對(duì)現(xiàn)有變焦鏡頭進(jìn)行出色的軸向色彩校正
- Vis-NIR選件允許在深藍(lán)色中進(jìn)行**的表面檢測，同時(shí)在1100nm處執(zhí)行子表面檢測，而不會(huì)重新聚焦或傳輸損失。
- SWIR選項(xiàng)甚至在表面下更遠(yuǎn)，以查看食品和硅晶圓檢測以及其他應(yīng)用中的損壞和缺陷。
粘結(jié)晶圓的示例圖像，顯示晶圓級(jí)真空包裝中使用的鍵合密封環(huán)和對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記。使用 Navitar Resolv4K 系統(tǒng)和 Acuros? 1MP SWIR 相機(jī)的鹵素背光。照片由SWIR視覺系統(tǒng)提供。
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