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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理OTSUKA大塚 顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 測量各種薄膜，晶圓，光學材料等涂層薄膜的厚度，以及多層薄膜的厚度，而不會具有破壞性和非接觸性。
詳情介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理OTSUKA大塚 顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 測量各種薄膜，晶圓，光學材料等涂層薄膜的厚度，以及多層薄膜的厚度，而不會具有破壞性和非接觸性。
OTSUKA大塚顯微分光膜厚儀OPTM SERIES
OPTM顯微分光膜厚儀是FE-3000反射分光膜厚計的**代產(chǎn)品。OPTM沿用分光干涉法，可測量**反射率、多層膜厚、折射率和消光系數(shù)，納米級測量，精度高。OPTM可用于FPD構(gòu)件（PI膜、ITO膜、CF膜）、光觸媒、汽車零件DLC膜、半導體材料氧化層、光學材料薄膜等材料的無損非接觸式測量，檢測時間僅需1秒。
產(chǎn)品特點：
·非接觸非破壞式測量
·高速拍攝自動對焦，1秒即可得到結(jié)果
·波長范圍廣（紫外-近紅外），可測量厚度或顏色不同的各種薄膜
·操作簡單，無經(jīng)驗也可輕松解析光學常數(shù)
·開放而**的操作臺，光柵傳感器觸發(fā)停止，避免損傷。
產(chǎn)品參數(shù)：
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OPTM-A1 | OPTM-A2 | OPTM-A3 |
|---|---|---|---|
| 波長範圍 | 230 ~ 800 nm | 360 ~ 1100 nm | 900 ~ 1600 nm |
| 膜厚範圍 | 1nm ~ 35μm | 7nm ~ 49μm | 16nm ~ 92μm |
| 測定時間 | 1秒 / 1點 |
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| 光徑大小 | 10μm (*小約5μm) |
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| 感光元件 | CCD | InGaAs |
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| 光源規(guī)格 | 氘燈+鹵素燈 | 鹵素燈 |
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| 電源規(guī)格 | AC100V±10V 750VA（自動樣品臺規(guī)格） |
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| 尺寸 | 555(W) × 537(D) × 568(H) mm (自動樣品臺規(guī)格之主體部分) |
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| 重量 | 約 55kg（自動樣品臺規(guī)格之主體部分） |
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