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產(chǎn)品中心
產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:OTSUKA大塚電子中國代理多通道光譜儀

  • 產(chǎn)品型號:MCPD-6800
  • 產(chǎn)品廠商:OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價格:0
  • 折扣價格:0
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簡單介紹:
塔瑪薩崎電子(蘇州)有限公司OTSUKA大塚電子MCPD-6800中國代理多通道光譜儀這是一款多通道多通道光譜儀,適用于紫外到近紅外范圍。 除了顯微光譜、光源發(fā)光、透射和反射測量外,它還可以與軟件結(jié)合使用,以評估物體的顏色和薄膜厚度。
詳情介紹:

塔瑪薩崎電子(蘇州)有限公司OTSUKA大塚電子MCPD-6800中國代理多通道光譜儀這是一款多通道多通道光譜儀,適用于紫外到近紅外范圍。 除了顯微光譜、光源發(fā)光、透射和反射測量外,它還可以與軟件結(jié)合使用,以評估物體的顏色和薄膜厚度。

OTSUKA大塚電子MCPD-6800擁有3個波長范圍內(nèi)的12種探測器陣容,并提出*合適的探測器,以滿足客戶需求和測量應用。

MCPD-6800它配備了通用USB端口和LAN通信,可以支持從遠程位置進行遠程測量,從而擴展了便利性和廣泛的測量應用。

OTSUKA大塚電子MCPD-6800使用512通道或1024ch檢測元件和探測器主體的內(nèi)部存儲器,可以每5毫秒(MCPD-6800)以高靈敏度和精度測量不斷變化的紫外,可見光和近紅外發(fā)射光譜。

OTSUKA大塚電子MCPD-6800薄膜厚度測量系統(tǒng)用途 ◎薄膜、涂膜、保護膜的膜厚 ◎晶圓、玻璃基板、鋁基板上的膜

OTSUKA大塚電子MCPD-6800顯微光譜系統(tǒng)應用 ◎ 顯微鏡下微小斑點的測量(反射、透射、吸收) ◎ 薄膜厚度測量
(薄膜、各種基材上的薄膜、保護膜)

多點測量系統(tǒng)
多點測量系統(tǒng) 應用 ◎ 減反射膜的反射率測量 ◎ 涂膜的膜厚測量 ◎ 各種基材上的膜


厚測量

 

橫移機兼容系統(tǒng)
橫移機兼容系統(tǒng) 應用 ◎ 減反射膜的膜厚和反射率測量 ◎ 功能性膜

的質(zhì)量控制

 




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