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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.

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產(chǎn)品詳情

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產(chǎn)品名稱：OTSUKA大塚電子中國代理多通道光譜儀
產(chǎn)品型號：MCPD-6800
產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
產(chǎn)品價格：0
折扣價格：0
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簡單介紹：

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚電子MCPD-6800中國代理多通道光譜儀這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。除了顯微光譜、光源發(fā)光、透射和反射測量外，它還可以與軟件結(jié)合使用，以評估物體的顏色和薄膜厚度。

詳情介紹：

OTSUKA大塚電子MCPD-6800擁有3個波長范圍內(nèi)的12種探測器陣容，并提出*合適的探測器，以滿足客戶需求和測量應(yīng)用。

MCPD-6800它配備了通用USB端口和LAN通信，可以支持從遠程位置進行遠程測量，從而擴展了便利性和廣泛的測量應(yīng)用。

OTSUKA大塚電子MCPD-6800使用512通道或1024ch檢測元件和探測器主體的內(nèi)部存儲器，可以每5毫秒（MCPD-6800）以高靈敏度和精度測量不斷變化的紫外，可見光和近紅外發(fā)射光譜。

OTSUKA大塚電子MCPD-6800薄膜厚度測量系統(tǒng)用途 ◎薄膜、涂膜、保護膜的膜厚 ◎晶圓、玻璃基板、鋁基板上的膜厚

OTSUKA大塚電子MCPD-6800顯微光譜系統(tǒng)應(yīng)用 ◎ 顯微鏡下微小斑點的測量（反射、透射、吸收） ◎ 薄膜厚度測量
（薄膜、各種基材上的薄膜、保護膜）

多點測量系統(tǒng)

應(yīng)用 ◎ 減反射膜的反射率測量 ◎ 涂膜的膜厚測量 ◎ 各種基材上的膜

厚測量

橫移機兼容系統(tǒng)
	應(yīng)用 ◎ 減反射膜的膜厚和反射率測量 ◎ 功能性膜的質(zhì)量控制

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多點測量系統(tǒng)
	應(yīng)用 ◎ 減反射膜的反射率測量 ◎ 涂膜的膜厚測量 ◎ 各種基材上的膜厚測量

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產(chǎn)品名稱：OTSUKA大塚電子中國代理多通道光譜儀