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塔瑪薩崎電子(蘇州)有限公司OTSUKA大塚電子蘇州代理粒度分析儀SAQLA、ELSZneo,粒徑測(cè)量?jī)x,ZETA電位儀
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塔瑪薩崎電子(蘇州)有限公司OTSUKA大塚電子浙江代理粒度分析儀SAQLA、ELSZneo,粒徑測(cè)量?jī)x,ZETA電位儀
代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測(cè)厚儀、偏光片檢測(cè)、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學(xué)材料檢查設(shè)備、液晶層間隙量測(cè)設(shè)備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機(jī)產(chǎn)業(yè)(粘度計(jì))、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源 索尼克(風(fēng)速計(jì)、流量計(jì)等)、坂口電熱(加熱器、制冷片)、NEWKON新光(針孔機(jī))、NS精密科學(xué)(柱塞泵、高壓耐腐蝕防爆泵) 、SIBATA柴田科學(xué)、SAKURAI櫻井
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塔瑪薩崎電子(蘇州)有限公司代理、直營(yíng)各日本品牌工業(yè)產(chǎn)品,聯(lián)系人:張小姐
聯(lián)系電話(微信):15902189399
nanoSAQLA是一種采用動(dòng)態(tài)光散射法(DLS法)的粒度測(cè)量裝置(粒徑0.6nm~10μm)。
配備各種功能,進(jìn)一步追求質(zhì)量控制的需求。
它實(shí)現(xiàn)了一種新的光學(xué)系統(tǒng),支持從精益~濃縮系統(tǒng)到實(shí)驗(yàn)室必不可少的寬濃度范圍內(nèi)的多樣品測(cè)量,重量輕,小型化,并以1分鐘高速測(cè)量為標(biāo)準(zhǔn)。
此外,它是一種非浸入式的新產(chǎn)品,不受污染的影響,并且標(biāo)配“連續(xù)測(cè)量5個(gè)樣品”,無(wú)需自動(dòng)進(jìn)樣器。
型 | 多樣品納米粒度測(cè)量系統(tǒng) |
測(cè)量原理 | 動(dòng)態(tài)光散射(光子相關(guān)法) |
光源 | 高功率二極管激光器(660nm,70mW) *1 |
探測(cè)器 | 高靈敏度 APD |
連續(xù)測(cè)量 | *多 5 個(gè)樣品 |
測(cè)量范圍 | 0.6納米~10微米 |
濃度范圍 | 0.00001 ~ 40% *2 |
溫度范圍 | 0 ~ 90°C (帶溫度梯度功能) *3 |
樣品容量 | 方形電池: 1.2mL~, 微量電池: 20μL~ |
大小 | 寬240 X 長(zhǎng)480 X 高375毫米 |
功耗 | 交流 100~240V 50/60Hz、250VA |
重量 | 約 18 公斤 |
軟件 | 平均粒徑分析(累積量法) |
粒度分布分析 (Marquardt/Contin/NNLS/Unimodal) |
|
粒度分布覆蓋 | |
負(fù)相關(guān)函數(shù)和殘差圖 | |
粒度監(jiān)測(cè)儀 | |
粒度顯示范圍(0.1~106 納米) | |
分子量計(jì)算功能 | |
兼容 21 CFR 第 11 部分 *4 | |
選擇 | 痕量細(xì)胞(20μL起),熒光濾光片 |
*1 本設(shè)備被歸類為激光**標(biāo)準(zhǔn)(JIS C6802)的1類。 *2 PS乳膠顆粒:0.00001~10%,牛磺膽酸:~40%
*3 使用帶有貼片細(xì)胞支架的烏鴉細(xì)胞時(shí)。
使用5桶電池支架或一次性電池時(shí),15~40°C
*4可選
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