熱門(mén)搜索：
代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測(cè)厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測(cè)器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺(tái)階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無(wú)塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛(ài)睦威地震儀、HOKUYO北陽(yáng)電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
產(chǎn)品中心
-
CEDAR思達(dá)
-
Stucchi思多奇
-
NITTO KOHKI日...
-
Sankei
-
KYOWA協(xié)和工業(yè)
- DIT東日技研
- AITEC艾泰克
-
SIGMAKOKI西格瑪...
- REVOX萊寶克斯
- CCS 希希愛(ài)視
- SIMCO思美高
- POLARI0N普拉瑞
- HOKUYO北陽(yáng)電機(jī)
- SSD西西蒂
- EMIC 愛(ài)美克
- TOFCO東富科
-
打印機(jī)
- HORIBA崛場(chǎng)
- OTSUKA大冢電子
- MITAKA三鷹
- EYE巖崎
- KOSAKA小坂
-
SAGADEN嵯峨電機(jī)
- TOKYO KEISO東...
- takikawa 日本瀧...
- Yamato雅馬拓
- sanko三高
- SEN特殊光源
-
SENSEZ 靜雄傳感器
- marktec碼科泰克
- KYOWA共和
- FUJICON富士
- SANKO山高
-
Sugiyama杉山電機(jī)
-
Osakavacuum大...
-
YAMARI 山里三洋
- ACE大流量計(jì)
- KEM京都電子
- imao今尾
- AND艾安得
- EYELA東京理化
- ANRITSU安立計(jì)器
- JIKCO 吉高
- NiKon 尼康
- DNK科研
- Nordson諾信
- PISCO匹斯克
- NS精密科學(xué)
- NDK 日本電色
-
山里YAMARI
- SND日新
-
Otsuka大塚電子
- kotohira琴平工業(yè)
- YAMABISHI山菱
- OMRON歐姆龍
- SAKURAI櫻井
- UNILAM優(yōu)尼光
-
氙氣閃光燈
-
UV反轉(zhuǎn)曝光系統(tǒng)
-
UV的水處理
-
檢測(cè)系統(tǒng)
-
光照射裝置
-
點(diǎn)光源曝光
-
變壓型電源供應(yīng)器
-
超高壓短弧汞燈
-
UV光洗凈
-
UV曝光裝置
-
uv固化裝置
-
紫外可見(jiàn)光光度計(jì)
產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
MITAKA三鷹光器微透鏡陣列（MLA）
形狀光學(xué)表征設(shè)備
它配備了NH系列的所有基本形狀測(cè)量功能，可以測(cè)量透鏡和模具的橫截面形狀，并用專用軟件集體測(cè)量曲率和中心坐標(biāo)。
詳情介紹：
MITAKA三鷹光器長(zhǎng)處
通過(guò)高精度圖像處理可以評(píng)估鏡頭的光學(xué)特性
評(píng)估項(xiàng)目 ： 有效焦距 / 后焦 / 透射率 / 焦距 / 焦距 / 焦深 / MTF
同時(shí)測(cè)量多個(gè)微透鏡陣列 （MLA）
使用如下所示的測(cè)量光學(xué)系統(tǒng)用顯微鏡鏡頭放大平行光的集中圖像（針孔狹縫圖像），并由CCD相機(jī)捕獲圖像。 通過(guò)對(duì)圖像進(jìn)行圖像處理來(lái)評(píng)估鏡頭的光學(xué)特性。
測(cè)量光學(xué)元件
多點(diǎn)微透鏡陣列（MLA）也可以同時(shí)測(cè)量
矩陣創(chuàng)建軟件
專用矩陣測(cè)量軟件可記憶陣列模式，實(shí)現(xiàn)平滑的自動(dòng)測(cè)量。
它是MLA研發(fā)和質(zhì)量控制的理想選擇，這些研發(fā)和質(zhì)量控制變得越來(lái)越大。
它是MLA研發(fā)和質(zhì)量控制的理想選擇，這些研發(fā)和質(zhì)量控制變得越來(lái)越大。
MITAKA三鷹光器諾馬斯基微分干涉觀測(cè)
NH的顯微鏡部分可以配備諾馬斯基微分干涉光學(xué)元件。
該光學(xué)系統(tǒng)可直觀地捕獲普通明場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)無(wú)法觀察到的數(shù)十?的表面粗糙度和劃痕，并可以使用激光探頭在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行定量粗糙度和階梯測(cè)量。
該光學(xué)系統(tǒng)可直觀地捕獲普通明場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)無(wú)法觀察到的數(shù)十?的表面粗糙度和劃痕，并可以使用激光探頭在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行定量粗糙度和階梯測(cè)量。
帶有諾馬斯基光學(xué)器件的NH-3N
包含諾馬斯基法學(xué)院的
NH系列光路圖
NH系列光路圖
測(cè)量功能
使用激光探頭測(cè)量透鏡形狀測(cè)量
?曲率半徑、中心坐標(biāo)值
、圓度、頂點(diǎn)高度、XY坐標(biāo)、橫截面
、3D形狀測(cè)量、各透鏡表面的表面粗糙度
測(cè)量
、圓度、頂點(diǎn)高度、XY坐標(biāo)、橫截面
、3D形狀測(cè)量、各透鏡表面的表面粗糙度
測(cè)量
光學(xué)表征通過(guò)圖像處理測(cè)量
?有效焦距、后焦、有效MLA焦距、各鏡頭的集光位置
、錯(cuò)位、各鏡頭的對(duì)焦光斑尺寸
、透射率
、焦
平面上的圖像形成評(píng)估（彗差、畸變等）、
景深（可選）
?MTF測(cè)量（可選）
、錯(cuò)位、各鏡頭的對(duì)焦光斑尺寸
、透射率
、焦
平面上的圖像形成評(píng)估（彗差、畸變等）、
景深（可選）
?MTF測(cè)量（可選）
MITAKA三鷹光器規(guī)范
運(yùn)動(dòng)范圍（X、Y、Z、AF）
100， 100， 100， 10毫米
X-Y 軸刻度分辨率
0.1微米
自動(dòng)對(duì)焦軸刻度分辨率
0.01微米
測(cè)量原理
點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦方法 ISO 25178-605
激光
λ = 635nm 輸出，1mW 或更低
產(chǎn)品留言
標(biāo)題
聯(lián)系人
聯(lián)系電話
內(nèi)容
注：1.可以使用快捷鍵Alt+S或Ctrl+Enter發(fā)送信息!
2.如有必要,請(qǐng)您留下您的詳細(xì)聯(lián)系方式!
2.如有必要,請(qǐng)您留下您的詳細(xì)聯(lián)系方式!
