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產品詳情
簡單介紹：
江蘇區(qū)域供應HORIBA崛場納米顆粒分析儀粒度儀SZ-100V2納米技術的研發(fā)是一個持續(xù)不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產品。組件的小型化——即納米級控制可以有效實現(xiàn)更快的測量速度、更好的設備性能以及更低的設備運行能耗。納米技術在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學等很多領域發(fā)揮著關鍵作用。
詳情介紹：
總代日本HORIBA崛場納米顆粒分析儀粒度儀SZ-100V2國內各區(qū)域供應
江蘇HORIBA崛場納米顆粒分析儀粒度儀SZ-100V2
粒徑測量范圍0.3 nm ~ 10 μm
SZ-100V2 系列采用動態(tài)光散射 (DLS) 原理測量顆粒粒徑大小及分布，實現(xiàn)了超寬濃度范圍的樣品測量，該系列可準確測量低至ppm 級低濃度、高至百分之幾十的高濃度樣品?？墒褂檬惺鄣臉悠烦?，也可實現(xiàn)對小體積樣品的測量。
Zeta 電位測量范圍– 500 ~ + 500 mV
使用 HORIBA Zeta電位樣品池測量Zeta 電位值只需樣品100 μL，通過Zeta電位可預測和控制樣品的分散穩(wěn)定性。Zeta 電位值越高，則意味著分散體系越穩(wěn)定，這對于產品配方的研究工作具有重大的意義。
分子量測量范圍1 × 10 3 ~ 2 × 10 7 Da
通過測量不同濃度下的靜態(tài)光散射強度并通過德拜記點法計算樣品的**分子量 (Mw) 和**維里系數(shù) (A2 )。
SZ-100V2 系列具有良好的復雜信息處理能力和學習能力，可快速確定納米顆粒的特性！
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SZ-100V2 系列具有雙光路設計，既可以測量高濃度的樣品，如漿體和染料；同時也可以用于測量低濃度樣品，如蛋白質、聚合物等。
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使用單臺設備即可表征納米顆粒的三大參數(shù)——粒徑、Zeta 電位和分子量
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HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池可防止樣品對其造成污染。樣品池容量（*低容量100 μL）小適用于稀釋樣品的分析。
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HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成，該材料不會受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。
儀器規(guī)格（SZ-100-S2 和 SZ-100-Z2）
| 測量單元光學系統(tǒng) |
光源：二極管泵浦倍頻激光器（532 nm，S2 / Z2 10 mW，HS2 / HZ2 100 mW） 檢測器：光電倍增管（PMT） |
|---|---|
| 激光分類 | ** |
| 工作溫度和濕度 | 15 - 35 °C，RH 85% 或更低（無冷凝） |
| 支架溫度控制溫度設置 | 0 - 90 °C（石墨電極電位樣品池控溫*高可達 70 °C） |
| 吹掃 | 可以連接干燥氣體吹掃端口管。 |
| 電源供應 | 交流 100 - 240 V，50/60 Hz，150 VA |
| 外觀尺寸 | 528 (W) x 385 (D) x 273 (H) mm（不包括突出部分） |
| 重量 | 25 kg |
| 電腦 | 帶有一個可用 USB 端口的 Windows 計算機 |
| 界面 | USB 2.0（測量單元和 PC 之間） |
| 操作系統(tǒng) |
Windows® 10 32/64 位 |
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