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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺(tái)階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
國內(nèi)總代HORIBA崛場一鍵式全自動(dòng)快速橢偏儀 Auto SEAuto SE是一種新型薄膜測量工具。僅需簡單的幾個(gè)按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動(dòng)完成樣品測量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報(bào)告，包括薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、表面粗糙度和薄膜的不均勻性、反射率或透過率。Auto SE全自動(dòng)化設(shè)計(jì)、一鍵式操作，功能齊全。配備自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)進(jìn)行成像分析，自動(dòng)切換微光斑，多種附件可選，以滿足不同的應(yīng)用需求。
詳情介紹：
HORIBA崛場一鍵式全自動(dòng)快速橢偏儀 Auto SE 國內(nèi)各區(qū)域供應(yīng)
概要：
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全自動(dòng)流程，薄膜分析更容易
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高性能系統(tǒng)
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光斑可視化，微光斑可至25x60 μm
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功能齊全和靈活
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智能診斷
配置：
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光譜范圍：440-1000nm
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光斑尺寸：7個(gè)尺寸微光斑全自動(dòng)切換500x500 μm; 250x500 μm; 250x250 μm; 70x250 μm; 100x100 μm; 50x60 μm; 25x60 μm
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探測系統(tǒng)：CCD，分辨率2nm
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樣品臺(tái)：真空吸盤，Z軸行程40mm
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光斑可視系統(tǒng)：CCD攝像機(jī)-視野1.33x1 mm-分辨率10μm
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量角器：固定角70°，也可選擇66°或61.5°
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多種附件可選
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測試時(shí)間：<2s，常規(guī)為5s
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準(zhǔn)確性：NIST 100nm d ± 4?, n(632.8nm) ± 0.002
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重復(fù)性：NIST 15nm ± 0.2 ?
Auto SE - 自動(dòng)化薄膜測量工具
一鍵式全自動(dòng)快速橢偏儀
Auto SE是一種新型薄膜測量工具。僅需簡單的幾個(gè)按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動(dòng)完成樣品測量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報(bào)告，包括薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、表面粗糙度和薄膜的不均勻性、反射率或透過率。
Auto SE全自動(dòng)化設(shè)計(jì)、一鍵式操作，功能齊全。配備自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)進(jìn)行成像分析，自動(dòng)切換微光斑，多種附件可選，以滿足不同的應(yīng)用需求。
Auto SE借助完整的操作向?qū)В?span style="box-sizing:border-box;font-weight:bolder;">自動(dòng)檢測并診斷問題，對故障進(jìn)行處理，儀器維護(hù)簡單
Auto SE是用于快速薄膜測量和器件質(zhì)量控制理想的解決方案。
推薦優(yōu)勢日本HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100V2系列
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