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進口HORIBA堀場先進原子力顯微鏡SmartSPM國內(nèi)總代
操作完全自動化
全自動激光-光電二極管準直
更換針尖簡單方便
豐富的各種測量模式
系統(tǒng)調(diào)試速度快
分辨率/穩(wěn)定性/**度
閉環(huán)平板掃描器即可實現(xiàn)100μm大范圍掃描,也可實現(xiàn)分子/原子分辨率掃描。
標準測量無需隔振系統(tǒng)。
低噪音傳感器設(shè)計保證了在分子分辨率成像過程中也能打開閉環(huán),獲得準確的結(jié)果。
快速掃描
采用業(yè)界*高的高共振頻率掃描器(XY>7kHz和 Z>15kHz),優(yōu)化的掃描器控制算法可以輕松實現(xiàn)快速掃描。
標配幾乎所有SPM模式,無需添加任何附件和額外成本
包括開爾文探針顯微鏡,壓電響應(yīng)力顯微鏡,納米蝕刻和納米操縱。
輕松升級到納米拉曼光譜儀
SmartSPM無論從軟件設(shè)計到硬件設(shè)計都能與拉曼系統(tǒng)進行無縫的耦合。
測量模式
?空氣中接觸AFM;
?液體接觸AFM(可選);
?空氣中的半接觸原子力顯微鏡;
?液體半接觸原子力顯微鏡(可選);
?真正的非接觸式原子力顯微鏡;
?動態(tài)力顯微鏡(DFM、FM-AFM);
?耗散力顯微鏡;
?Top模式;
?相位成像;
?側(cè)向力顯微鏡(LFM);
?力調(diào)制;
?導(dǎo)電原子力顯微鏡(可選);
?I-Top模式(可選);
?磁力顯微鏡(MFM);
?開爾文探針(表面電位顯微鏡);
?單通開爾文探頭;
?電容顯微鏡(SCM)
?電力顯微鏡(EFM);
?單通道MFM/EFM(“平面掃描”);
?力曲線測量;
?壓電響應(yīng)力顯微鏡(PFM);
?PFM Top模式;
?納米光刻技術(shù);
?納米操縱;
?STM(可選);
?光電流成像模式(可選);
?伏安特性測量(可選);
?帶音叉的剪切力顯微鏡(ShFM);
?音叉法向力顯微鏡。
SmartSPM掃描器和基座
閉環(huán)平板掃描器: 100 μm x 100 μm x 15 μm (±10 %)
掃描器非線性:XY≤0.05 %; Z≤0.05 %
噪聲水平:XY≤0.1 nm RMS(200 Hz帶寬,電容傳感器打開);XY≤0.02 nm RMS(100 Hz帶寬,電容傳感器關(guān)閉);Z<0.04 nm RMS (1000 Hz帶寬,電容傳感器開)
高頻掃描器:XY≥7 kHz; Z≥ 15 kHz
X, Y, Z自動趨近:XYZ數(shù)字閉環(huán)控制,Z向馬達趨近距離18mm
樣品尺寸:40 mm x 50 mm x 15 mm
樣品定位:自動樣品臺范圍:5 mm x 5 mm
定位精度:1μm
AFM測試頭HE001
激光波長:1300nm
激光對生物樣品無影響;
激光對光電測量無影響
系統(tǒng)噪聲:< 0.03 nm
全電動:4步進電機用于懸臂和光電二極管自動對準;
探針通道:為外部操作和探針提供自由通道
頂部和側(cè)向同時光路通道:帶平消色差物鏡,可同時10x,NA0.28頂部物鏡和20x,NA0.42側(cè)向物鏡;
AFM測試頭HE002
激光波長:1300nm
激光對生物樣品無影響;
激光對光電測量無影響;
系統(tǒng)噪聲:< 0.1 nm
全電動:4步進電機用于懸臂和光電二極管自動對準;
探針通道:為外部操作和探針提供自由通道;
頂部和側(cè)向同時光路通道:帶平消色差物鏡,可同時高達100x,NA0.7側(cè)向物鏡和10x,NA0.28頂部物鏡
*HE002不兼容液體模式。
光學(xué)顯微鏡
數(shù)值孔徑:NA 0.1;
放大倍率:從85x到1050x(19英寸監(jiān)視器,1/3英寸CCD);
水平視野:4.5~0.37mm;
手動變焦:12.5倍(電動變焦可選);
粗/精對焦單元:
兼容平顯色差物鏡:10x,NA 0.28和20x,NA 0.42和100x,NA0.7(取決于AFM測試頭);
液體池(可選)
樣品尺寸:φ25mm×2mm;
樣品定位范圍:5 mm x5mm;
定位分辨率:1um;
液體池尺寸:40mm x40mm x12mm;
液體體積:3ml;
液體可交換;
高壓**器和超聲波清洗溶液池部件。
溫控液體池(可選)
樣品尺寸:φ25mm×2mm;
加熱:*高60℃;
冷卻:室溫以下降至5℃;
樣品定位范圍:5 mm x5mm;
定位分辨率:優(yōu)于1.5um;
液體池尺寸:40 mm x40 mm x12mm;
液體體積:3ml;
液體可交換;
高壓**器和超聲波清洗液體池部件。
導(dǎo)電力AFM(選購)
電流范圍:100fA~10μA;三檔量程自動切換(1 nA, 100 nA 和 10 μA)
電壓范圍:-10~ +7V
電流噪聲:≤60fA(1nA量程)
導(dǎo)電力AFM和KPFM模式可自動切換
側(cè)向力和正交力音叉支架(可選)
兼容32,768kHz音叉;
兩種固定音叉的PCB;
音叉振動的壓電陶瓷激勵;
集成低噪聲前置放大器;
兼容側(cè)向100倍物鏡TERS\TEPL測量;
兼容頂部10x物鏡
納米壓痕裝置(可選)
*大載荷:5mN
負載噪聲:小于100nN
位移噪聲:小于0.2nm
光學(xué)系統(tǒng)的兼容性
紅外激光對光學(xué)成像無干擾;
可升級至OmegaScope,用于光譜、光電、SNOM和TERS&TEPL操作
帶光學(xué)顯微鏡支架的保護罩(可選)
隔聲:30dB;
具備靜電屏蔽功能;
具有環(huán)境控制輸入輸出接口;
100倍物鏡的精細聚焦(可選):聚焦精度0.2mm;
濕度控制系統(tǒng)(可選)
相對濕度:10%-85%
濕度穩(wěn)定性:±1%
軟件系統(tǒng)
自動準直系統(tǒng);
自動配置標準測量技術(shù);
自動調(diào)節(jié)懸臂梁共振頻率;
能夠處理力曲線;
宏語言Lua,用于編程用戶函數(shù)、腳本和小構(gòu)件;
能用DSP宏語言對控制器進行實時編程,無需重新加載控制軟件;
在坐標空間處理圖像的能力,包括制作橫截面、擬合和高達12級的多項式曲面減法;
FFT處理,具有在頻率空間處理圖像的能力,包括濾波和分析;
納米蝕刻和納米操縱;
高達5000x5000像素圖像的處理能力。
2.如有必要,請您留下您的詳細聯(lián)系方式!