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  • 產(chǎn)品詳情
    • 產(chǎn)品名稱:進口HORIBA堀場先進原子力顯微鏡SmartSPM

    • 產(chǎn)品型號: SmartSPM
    • 產(chǎn)品廠商:HORIBA堀場
    • 產(chǎn)品價格:0
    • 折扣價格:0
    • 產(chǎn)品文檔:
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    簡單介紹:
    日本進口HORIBA堀場先進原子力顯微鏡SmartSPM 國內(nèi)總代SmartSPM掃描探針顯微鏡是**個100%自動化的系統(tǒng),它為所有AFM和STM模式下的納米級先進材料研究提供了快速、計量和高分辨率測量的**技術(shù)。SmartSPM可以從達到100μm范圍掃描到原子級分辨率掃描。它能夠與光學(xué)光譜(SNOM、Raman、光致發(fā)光和TERS/SERS技術(shù))無縫耦合。
    詳情介紹:

    進口HORIBA堀場先進原子力顯微鏡SmartSPM國內(nèi)總代

    操作完全自動化

    全自動激光-光電二極管準直

    更換針尖簡單方便

    豐富的各種測量模式

    系統(tǒng)調(diào)試速度快

    分辨率/穩(wěn)定性/**度

    閉環(huán)平板掃描器即可實現(xiàn)100μm大范圍掃描,也可實現(xiàn)分子/原子分辨率掃描。

    標準測量無需隔振系統(tǒng)。

    低噪音傳感器設(shè)計保證了在分子分辨率成像過程中也能打開閉環(huán),獲得準確的結(jié)果。

    快速掃描

    采用業(yè)界*高的高共振頻率掃描器(XY>7kHz和 Z>15kHz),優(yōu)化的掃描器控制算法可以輕松實現(xiàn)快速掃描。

    標配幾乎所有SPM模式,無需添加任何附件和額外成本

    包括開爾文探針顯微鏡,壓電響應(yīng)力顯微鏡,納米蝕刻和納米操縱。

    輕松升級到納米拉曼光譜儀

    SmartSPM無論從軟件設(shè)計到硬件設(shè)計都能與拉曼系統(tǒng)進行無縫的耦合。

    測量模式

    ?空氣中接觸AFM;

    ?液體接觸AFM(可選);

    ?空氣中的半接觸原子力顯微鏡;

    ?液體半接觸原子力顯微鏡(可選);

    ?真正的非接觸式原子力顯微鏡;

    ?動態(tài)力顯微鏡(DFM、FM-AFM);

    ?耗散力顯微鏡;

    ?Top模式;

    ?相位成像;

    ?側(cè)向力顯微鏡(LFM);

    ?力調(diào)制;

    ?導(dǎo)電原子力顯微鏡(可選);

    ?I-Top模式(可選);

    ?磁力顯微鏡(MFM);

    ?開爾文探針(表面電位顯微鏡);

    ?單通開爾文探頭;

    ?電容顯微鏡(SCM)

    ?電力顯微鏡(EFM);

    ?單通道MFM/EFM(“平面掃描”);

    ?力曲線測量;

    ?壓電響應(yīng)力顯微鏡(PFM);

    ?PFM Top模式;

    ?納米光刻技術(shù);

    ?納米操縱;

    ?STM(可選);

    ?光電流成像模式(可選);

    ?伏安特性測量(可選);

    ?帶音叉的剪切力顯微鏡(ShFM);

    ?音叉法向力顯微鏡。

     

    SmartSPM掃描器和基座

    閉環(huán)平板掃描器: 100 μm x 100 μm x 15 μm (±10 %)

    掃描器非線性:XY≤0.05 %; Z≤0.05 %

    噪聲水平:XY≤0.1 nm RMS(200 Hz帶寬,電容傳感器打開);XY≤0.02 nm RMS(100 Hz帶寬,電容傳感器關(guān)閉);Z<0.04 nm RMS (1000 Hz帶寬,電容傳感器開)

    高頻掃描器:XY≥7 kHz; Z≥ 15 kHz

    X, Y, Z自動趨近:XYZ數(shù)字閉環(huán)控制,Z向馬達趨近距離18mm

    樣品尺寸:40 mm x 50 mm x 15 mm

    樣品定位:自動樣品臺范圍:5 mm x 5 mm

    定位精度:1μm

     

    AFM測試頭HE001

    激光波長:1300nm

    激光對生物樣品無影響;

    激光對光電測量無影響

    系統(tǒng)噪聲:< 0.03 nm

    全電動:4步進電機用于懸臂和光電二極管自動對準;

    探針通道:為外部操作和探針提供自由通道

    頂部和側(cè)向同時光路通道:帶平消色差物鏡,可同時10x,NA0.28頂部物鏡和20x,NA0.42側(cè)向物鏡;

     

    AFM測試頭HE002

    激光波長:1300nm

    激光對生物樣品無影響;

    激光對光電測量無影響;

    系統(tǒng)噪聲:< 0.1 nm

    全電動:4步進電機用于懸臂和光電二極管自動對準;

    探針通道:為外部操作和探針提供自由通道;

    頂部和側(cè)向同時光路通道:帶平消色差物鏡,可同時高達100x,NA0.7側(cè)向物鏡和10x,NA0.28頂部物鏡

     *HE002不兼容液體模式。

     

    光學(xué)顯微鏡

    數(shù)值孔徑:NA 0.1;

    放大倍率:85x1050x19英寸監(jiān)視器,1/3英寸CCD;

    水平視野:4.5~0.37mm;

    手動變焦:12.5倍(電動變焦可選);

    粗/精對焦單元:

    兼容平顯色差物鏡:10x,NA 0.28和20x,NA 0.42和100x,NA0.7(取決于AFM測試頭);

     

    液體池(可選)

    樣品尺寸:φ25mm×2mm;

    樣品定位范圍:5 mm x5mm;

    定位分辨率:1um;

    液體池尺寸:40mm x40mm x12mm;

    液體體積:3ml;

    液體可交換;

    高壓**器和超聲波清洗溶液池部件。

     

    溫控液體池(可選)

    樣品尺寸:φ25mm×2mm;

    加熱:*高60℃;

    冷卻:室溫以下降至5℃;

    樣品定位范圍:5 mm x5mm;

    定位分辨率:優(yōu)于1.5um;

    液體池尺寸:40 mm x40 mm x12mm;

    液體體積:3ml;

    液體可交換;

    高壓**器和超聲波清洗液體池部件。

     

    導(dǎo)電力AFM(選購)

    電流范圍:100fA~10μA;三檔量程自動切換(1 nA, 100 nA 和 10 μA)

    電壓范圍:-10~ +7V

    電流噪聲:≤60fA(1nA量程)

    導(dǎo)電力AFM和KPFM模式可自動切換

     

    側(cè)向力和正交力音叉支架(可選)

    兼容32,768kHz音叉;

    兩種固定音叉的PCB;

    音叉振動的壓電陶瓷激勵;

    集成低噪聲前置放大器;

    兼容側(cè)向100倍物鏡TERS\TEPL測量;

    兼容頂部10x物鏡

     

    納米壓痕裝置(可選)

    *大載荷:5mN

    負載噪聲:小于100nN

    位移噪聲:小于0.2nm

     

    光學(xué)系統(tǒng)的兼容性

    紅外激光對光學(xué)成像無干擾;

    可升級至OmegaScope,用于光譜、光電、SNOM和TERS&TEPL操作

     

    帶光學(xué)顯微鏡支架的保護罩(可選)

    隔聲:30dB;

    具備靜電屏蔽功能;

    具有環(huán)境控制輸入輸出接口;

    100倍物鏡的精細聚焦(可選):聚焦精度0.2mm;

     

    濕度控制系統(tǒng)(可選)

    相對濕度:10%-85%

    濕度穩(wěn)定性:±1%

     

    軟件系統(tǒng)

    自動準直系統(tǒng);

    自動配置標準測量技術(shù);

    自動調(diào)節(jié)懸臂梁共振頻率;

    能夠處理力曲線;

    宏語言Lua,用于編程用戶函數(shù)、腳本和小構(gòu)件;

    能用DSP宏語言對控制器進行實時編程,無需重新加載控制軟件;

    在坐標空間處理圖像的能力,包括制作橫截面、擬合和高達12級的多項式曲面減法;

    FFT處理,具有在頻率空間處理圖像的能力,包括濾波和分析;

    納米蝕刻和納米操縱;

    高達5000x5000像素圖像的處理能力。


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