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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
國內(nèi)總代非接觸式探測器KOSAKA小坂可測量12~500微米非接觸式測量允許在不損壞樣品的情況下進行測量。 緊湊的光學(xué)布置可實現(xiàn)內(nèi)徑的表面紋理測量，這在現(xiàn)有的非接觸式檢測器中是困難的。
詳情介紹：
國內(nèi)總代日本kosaka小板非接觸式探測器KOSAKA小坂可測量12~500微米
非接觸式測量允許在不損壞樣品的情況下進行測量。 緊湊的光學(xué)布置可實現(xiàn)內(nèi)徑的表面紋理測量，這在現(xiàn)有的非接觸式檢測器中是困難的。
- 由于檢測到與焦點位置的偏差量，因此沒有根據(jù)形狀移動的零件，因此可以進行高速測量。
- 由于激光的光強度可以分20步改變，因此即使對于反射率低的工件也可以進行測量。
- 自動停止功能可自動將探測器移動到焦點位置，無需對焦。
| 測量范圍 | 12~500微米 |
|---|---|
| 分辨率 | 0.2~0.5納米 |
| 光斑直徑在測量范圍內(nèi) | 約1~25μm |
| 測量精度 | 1%+0.03微米 |
| 重復(fù)性 | 10納米 |
| 激光 |
*大輸出功率 2mW，635nm，1 類 （JIS C 6802：2011） |
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