國(guó)內(nèi)總代kosaka小板 非接觸式探測(cè)器國(guó)內(nèi)總代

代理品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測(cè)厚儀、偏光片檢測(cè)、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學(xué)材料檢查設(shè)備、液晶層間隙量測(cè)設(shè)備等）、SANKO三高、NPM日脈、東機(jī)產(chǎn)業(yè)（粘度計(jì)）、CCS（視檢查光源）、Aitec（視檢查光源）、REVOX萊寶克斯（視檢查光源）、EYE巖崎（UV汞燈）、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源 索尼克（風(fēng)速計(jì)、流量計(jì)等）、坂口電熱（加熱器、制冷片）、NEWKON新光（針孔機(jī)）、NS精密科學(xué)（柱塞泵、高壓耐腐蝕防爆泵）   、SIBATA柴田科學(xué)、SAKURAI櫻井

優(yōu)勢(shì)品牌：AND艾安得、TOA-DKK東亞電波、JIKCO吉高、RKC理化工業(yè)、KYOWA共和、IIJIMA飯島電子、HORIBA堀場(chǎng)、EXCEL艾庫(kù)斯、HEIDON新東科學(xué)、USHIO牛尾、TOPCON拓普康、ORC歐阿西、SEKONIC日本世光、Tokyokoden東京光電、DSK電通、SAGADEN嵯峨電機(jī)、FUNATECH船越龍、HIKARIYA光屋、POLARION普拉瑞、HAYASHI林時(shí)計(jì)、MACOME碼控美、TML東京測(cè)器等等各日本品牌工業(yè)產(chǎn)品

SAKA小坂研究所

營(yíng)業(yè)項(xiàng)目：自動(dòng)車光電半導(dǎo)體精密測(cè)定機(jī)器，表面粗度測(cè)定機(jī)，微細(xì)形狀測(cè)定，輪廓形狀測(cè)定機(jī)，真圓度測(cè)定/真圓度圓筒形狀測(cè)定機(jī)
營(yíng)業(yè)項(xiàng)目適應(yīng)行業(yè)：

表面粗糙度測(cè)量機(jī)：使用鉆石或是激光光學(xué)測(cè)針、接觸（追蹤）加工件表面、測(cè)量出工件表面微細(xì)凹凸、并以定型或定量來(lái)分析粗糙度參數(shù)。
微細(xì)形狀、臺(tái)階測(cè)量計(jì)：FPD基板、硅晶片、硬磐等表面微細(xì)形狀、臺(tái)階、粗糙度測(cè)量圓度、圓柱形狀測(cè)量機(jī)：測(cè)量發(fā)動(dòng)機(jī)、缸體、活塞、曲軸、軸承等，具有圓度圓柱度、球形、平面形狀的工件，評(píng)估圓度、圓柱度、直線度、同軸度等形狀精度輪廓測(cè)量機(jī)：以測(cè)針追蹤加工部件外形測(cè)量出輪廓，分析出輪廓各部位的角度，半徑、間隔、臺(tái)階、段差等等

表面粗度測(cè)定機(jī)：
SE300,SE500,SE600,SE610,SE600K,SE600K31,
SE700,SE4000,
表面粗度,輪廓形狀測(cè)定機(jī)：
SEF580-G18,SEF580--G18D,SEF580-M50,SEF580-M58,SEF580-M58D,SEF680,SEF680K,
細(xì)微形狀測(cè)定機(jī)：
ET200,ET4000,ET10000,
表面形狀,粗度測(cè)定機(jī)：
DSF600,DSF900,
輪廓形狀測(cè)定機(jī)：.
EF550-G18,EF550-G18D,EF550-M50,EF550-M58,EF550-M58D,EF650,EF650D,REF100,
真圓度,圓頭形狀測(cè)定機(jī)：
EC600,EC1550H,EC1650H,EC1850H,EC2150,EC2500H,EC2700H,EC2500HF,EC2700HF,EC1850P,
EC3300P,EC3600A,EC3600B,EC3600C,EC4100H,
EC5100H,EC6100,
真圓度標(biāo)準(zhǔn)片：SS-R,
倍率標(biāo)準(zhǔn)片：SS-C,
檢出器：
PU-UG4SC,PU-UG4S,PU-UG5C,PU-UG5S,
對(duì)芯治具：MRC12,
回轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)付對(duì)芯治具：MRC-20,
防振臺(tái)付架臺(tái)：SMB-7，
防振臺(tái)：ECV40
空氣干燥機(jī)：ECA-30A,
粗度,輪廓形狀測(cè)定機(jī)用附件：PU-OS400,
薄膜試片臺(tái)：BA-41,
圓周租度測(cè)定臺(tái)：SRA-21，
校正用標(biāo)準(zhǔn)片：
SS-N,SS-A,SS-G21,SS-F,SS-T,SS-I,SS-E,SS-S,

日本Kosaka小坂研究所

非接觸式測(cè)量允許在不損壞樣品的情況下進(jìn)行測(cè)量。 緊湊的光學(xué)布置可實(shí)現(xiàn)內(nèi)徑的表面紋理測(cè)量，這在現(xiàn)有的非接觸式檢測(cè)器中是困難的。

• 由于檢測(cè)到與焦點(diǎn)位置的偏差量，因此沒(méi)有根據(jù)形狀移動(dòng)的零件，因此可以進(jìn)行高速測(cè)量。
• 由于激光的光強(qiáng)度可以分20步改變，因此即使對(duì)于反射率低的工件也可以進(jìn)行測(cè)量。
• 自動(dòng)停止功能可自動(dòng)將探測(cè)器移動(dòng)到焦點(diǎn)位置，無(wú)需對(duì)焦。