OTSUKA大塚電子FE-300F光學(xué)測量膜厚計(jì)塔瑪薩崎電子中國代理

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• 體積小、成本低且易于操作的薄膜厚度測量
• 可通過選擇光譜儀和光源來選擇測量膜厚度范圍
• 簡單的狀態(tài)設(shè)置和測量操作。 任何人都可以輕松測量
• 配備實(shí)時(shí)監(jiān)控和模擬功能
• 測量光斑直徑φ3mm（標(biāo)準(zhǔn)）支持
  從薄膜到3nm~35μm厚膜的廣泛測量

• **反射率測量
• 薄膜厚度分析（10層）
• 光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：衰減計(jì)數(shù)）

• 功能膜、塑料：
  透明導(dǎo)電膜（ITO、銀納米線）、阻滯膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、膠粘劑、膠粘劑、保護(hù)膜、硬涂層、防指紋劑等。
• 半導(dǎo)體 化合物半導(dǎo)體
  、硅、氧化膜、氮化物膜、抗蝕劑、碳化硅、砷化鎵、氮化鎵、鎵、藍(lán)寶石等
• 表面處理
  DLC涂層、防銹劑、防霧劑等
• 光學(xué)材料
  濾光片、增透膜等
• FPD
  液晶顯示器（CF，ITO，LC，PI），OLED（有機(jī)膜，密封膠）等。
• 其他
  硬盤、磁帶、建筑材料等
• 
  

代理品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學(xué)材料檢查設(shè)備、液晶層間隙量測設(shè)備等）、SANKO三高、NPM日脈、東機(jī)產(chǎn)業(yè)（粘度計(jì)）、CCS（視檢查光源）、Aitec（視檢查光源）、REVOX萊寶克斯（視檢查光源）、EYE巖崎（UV汞燈）、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源 索尼克（風(fēng)速計(jì)、流量計(jì)等）、坂口電熱（加熱器、制冷片）、NEWKON新光（針孔機(jī)）、NS精密科學(xué)（柱塞泵、高壓耐腐蝕防爆泵）   、SIBATA柴田科學(xué)、SAKURAI櫻井

優(yōu)勢品牌：AND艾安得、TOA-DKK東亞電波、JIKCO吉高、RKC理化工業(yè)、KYOWA共和、IIJIMA飯島電子、HORIBA堀場、EXCEL艾庫斯、HEIDON新東科學(xué)、USHIO牛尾、TOPCON拓普康、ORC歐阿西、SEKONIC日本世光、Tokyokoden東京光電、DSK電通、SAGADEN嵯峨電機(jī)、FUNATECH船越龍、HIKARIYA光屋、POLARION普拉瑞、HAYASHI林時(shí)計(jì)、MACOME碼控美、TML東京測器等等各日本品牌工業(yè)產(chǎn)品

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理、直營各日本品牌工業(yè)產(chǎn)品，聯(lián)系人：張小姐

聯(lián)系電話（微信）：15902189399