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產品名稱：Otsuka大塚電子線掃描膜厚度計離線型
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產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：

Otsuka大塚電子線掃描膜厚度計離線型該設備可離線輕松進行表面厚度不均勻性檢測，用于薄膜等的研發(fā)和質量控制的抽查。整個表面可以快速、高精度地測量。

詳情介紹：

江蘇地區(qū)Otsuka大塚電子線掃描膜厚度計離線型塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理銷售

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特點

可以檢查薄膜等面內膜厚不均
高速、高精度地測量整個表面
由于我們是薄膜厚度測量的專業(yè)制造商，我們可以提供全面的支持
通過光譜測量實現(xiàn)高精度薄膜厚度測量
硬件和軟件的原始設計

線掃描圖像
即時分析 300mm 方形光譜數(shù)據(jù)，實現(xiàn)整個不均勻檢測和薄膜厚度測量

規(guī)格

測定範囲	0.7～300 μm
測定幅	250 mm
測定間隔	10 ms～
裝置サイズ(W×D×H)	459×609×927 mm
重量	60 kg
消費電力	AC100 V±10% 125 VA

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產品名稱：Otsuka大塚電子線掃描膜厚度計離線型

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