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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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代理 Otsuka大塚多通道光纖光譜儀MCPD-6800 MCPD-9800 涂層測厚 在線測色儀膜厚在線測試陣列光譜儀在線分光測色儀 光譜分析系統(tǒng)
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Otsuka大塚電子線掃描膜厚度計離線型 該設(shè)備可離線輕松進(jìn)行表面厚度不均勻性檢測，用于薄膜等的研發(fā)和質(zhì)量控制的抽查。 整個表面可以快速、高精度地測量。
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Otsuka大塚電子在線膜厚測量厚度計塔瑪薩崎電子代理銷售 該裝置可以測量薄膜的整個寬度和總長度，用于在線薄膜生產(chǎn)現(xiàn)場。 通過將新開發(fā)的高精度薄膜厚度計算技術(shù)與專有光譜干涉方法相結(jié)合，可以在每 0.01 秒的測量間隔內(nèi)測量 500mm 寬度（使用一臺）的薄膜厚度。
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Otsuka大塚電子 RETS延遲測量設(shè)備 它是一種延遲測量設(shè)備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。 實(shí)現(xiàn)超高Re.60000nm的高速、高精度測量。 薄膜的層壓狀態(tài)可以通過“無剝離、無損”進(jìn)行測量。 此外，它還配備了簡單的軟件和校正功能，通過重新放置樣品來糾正偏差，從而輕松實(shí)現(xiàn)高精度測量。
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理大塚電子 OPTM-A1膜厚計 OPTM（Optim）是一種利用顯微分光在微區(qū)域進(jìn)行**反射率測量，可實(shí)現(xiàn)高精度薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)分析的裝置。 涂層膜的厚度和多層膜（如各種薄膜、晶圓和光學(xué)材料）可以無損或非接觸式測量。 測量時間可以高速測量 1 秒/點(diǎn)。 此外，它配備了一個軟件，即使是初學(xué)者可以很容易地分析光學(xué)常數(shù)。
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塔瑪薩崎代理Otsuka大塚多通道光譜儀 MCPD-6800 MCPD-6800 是光譜測量和分析的基本系統(tǒng)。 即時測量光譜，自由組裝測量光學(xué)系統(tǒng)和多種選項(xiàng)，可根據(jù)各種目的進(jìn)行系統(tǒng)升級。 測量波長范圍有四種類型可供選擇。
