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Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000
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Otsuka大塚內(nèi)置膜厚監(jiān)測儀Otsuka大塚內(nèi)置膜厚監(jiān)測儀Otsuka大塚內(nèi)置膜厚監(jiān)測儀
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Otsuka大塚膜厚計FE-300標(biāo)準(zhǔn)型Otsuka大塚膜厚計FE-300標(biāo)準(zhǔn)型Otsuka大塚膜厚計FE-300標(biāo)準(zhǔn)型
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頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率（多層OPTM顯微分光膜厚儀OPTM-A3Otsuka大塚膜厚度，光學(xué)常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的**機制 易于分析向?qū)В鯇W(xué)者也能夠進行光學(xué)常數(shù)分析 獨立測量頭對應(yīng)各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Ots
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