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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
Otsuka大塚膜厚計(jì)FE-300Otsuka大塚膜厚計(jì)FE-300Otsuka大塚膜厚計(jì)FE-300
詳情介紹：
膜厚計(jì)FE-300
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它是一種緊湊且低成本的膜厚計(jì)，可以通過高精度光學(xué)干涉法輕松測量膜厚。
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- 產(chǎn)品資訊
- 原理
- 規(guī)范
- 設(shè)備配置
產(chǎn)品資訊
特殊長度
- 支持從薄膜到厚膜的各種膜厚
- 使用反射光譜進(jìn)行膜厚分析
- 緊湊且價(jià)格低廉，實(shí)現(xiàn)了非接觸，無破壞的高精度測量
- 簡單的條件設(shè)置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
- 使用峰谷法，頻率分析法，非線性*小二乘法，優(yōu)化法等，可以進(jìn)行多種膜厚測量。
- 通過非線性*小二乘法的膜厚分析算法，可以進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光計(jì)數(shù)）。
測量項(xiàng)目
- **反射率測量
- 膜厚分析（10層）
- 光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光計(jì)數(shù)）
測量目標(biāo)
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功能膜，塑料
透明導(dǎo)電膜（ITO，銀納米線），相位差膜，偏光膜，AR膜，PET，PEN，TAC，PP，PC，PE，PVA，膠粘劑，膠粘劑，保護(hù)膜，硬質(zhì)大衣，防指紋等 -
半導(dǎo)體
化合物半導(dǎo)體，硅，氧化膜，氮化膜，抗蝕劑，SiC，GaAs，GaN，InP，InGaAs，SOI，藍(lán)寶石等。 -
表面處理
DLC涂層，防銹劑，防霧劑等 -
光學(xué)材料
濾鏡，增透膜等 -
FPD
LCD（CF，ITO，LC，PI），OLED（有機(jī)膜，密封劑）等 -
其他
硬盤，磁帶，建筑材料等
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