熱門搜索:
代理日本品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等)、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
產(chǎn)品中心
-
Stucchi思多奇
-
NITTO KOHKI日...
-
Sankei
-
KYOWA協(xié)和工業(yè)
- DIT東日技研
- AITEC艾泰克
-
SIGMAKOKI西格瑪...
- REVOX萊寶克斯
- CCS 希希愛視
- SIMCO思美高
- POLARI0N普拉瑞
- HOKUYO北陽電機(jī)
- SSD西西蒂
- EMIC 愛美克
- TOFCO東富科
-
打印機(jī)
- HORIBA崛場
- OTSUKA大冢電子
- MITAKA三鷹
- EYE巖崎
- KOSAKA小坂
-
SAGADEN嵯峨電機(jī)
- TOKYO KEISO東...
- takikawa 日本瀧...
- Yamato雅馬拓
- sanko三高
- SEN特殊光源
-
SENSEZ 靜雄傳感器
- marktec碼科泰克
- KYOWA共和
- FUJICON富士
- SANKO山高
-
Sugiyama杉山電機(jī)
-
Osakavacuum大...
-
YAMARI 山里三洋
- ACE大流量計
- KEM京都電子
- imao今尾
- AND艾安得
- EYELA東京理化
- ANRITSU安立計器
- JIKCO 吉高
- NiKon 尼康
- DNK科研
- Nordson諾信
- PISCO匹斯克
- NS精密科學(xué)
- NDK 日本電色
-
山里YAMARI
- SND日新
-
Otsuka大塚電子
- kotohira琴平工業(yè)
- YAMABISHI山菱
- OMRON歐姆龍
- SAKURAI櫻井
- UNILAM優(yōu)尼光
-
氙氣閃光燈
-
UV反轉(zhuǎn)曝光系統(tǒng)
-
UV的水處理
-
檢測系統(tǒng)
-
光照射裝置
-
點(diǎn)光源曝光
-
變壓型電源供應(yīng)器
-
超高壓短弧汞燈
-
UV光洗凈
-
UV曝光裝置
-
uv固化裝置
-
紫外可見光光度計
產(chǎn)品詳情
簡單介紹:
[通過光散射評估物理性能在
ELSZneo 中進(jìn)入一個新的階段]
除了在 ELSZseries 的**型號上用稀釋溶液到濃縮溶液測量 Zeta 電位和顆粒直徑外,該裝置還允許分子量測量。 作為一項(xiàng)新功能,我們采用了多角度測量,以提高顆粒大小分布的分離能力。 此外,還可以進(jìn)行顆粒濃度測量、微流變測量和凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。
新開發(fā)的 Zeta 電位平板電池單元采用新開發(fā)的高鹽濃度涂層,可在高鹽濃度環(huán)境中(如鹽水)進(jìn)行測量。 我們還推出了超微量電池單元,可在 3μL 下測量顆粒大小,為生命科學(xué)領(lǐng)域擴(kuò)展了可能性。
詳情介紹:
特點(diǎn)
- 從稀釋到濃縮的溶液(~40%)*1可在廣泛的濃度范圍內(nèi)測量顆粒大小和 Zeta 電位
- 多角度測量可實(shí)現(xiàn)高分離粒徑分布的測量
- 可在高鹽濃度下測量平板樣品的Zeta電位
- 使用靜態(tài)光散射法測量顆粒濃度
- 動態(tài)光散射法可實(shí)現(xiàn)微流變測量
- 通過多點(diǎn)測量凝膠樣品,可以評估凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)和異質(zhì)性
- 標(biāo)準(zhǔn)流單元可連續(xù)測量顆粒大小和 Zeta 電位
- 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測量
- 溫度梯度功能允許蛋白質(zhì)的變性和相變溫度分析
- 通過測量和繪圖分析,提供高精度的 Zeta 電位測量結(jié)果,用于測量單元中的電滲透流
- 可安裝熒光切割過濾器(可選)
用
它非常適合在界面化學(xué)、無機(jī)材料、生命科學(xué)、半導(dǎo)體、聚合物、生物、制藥和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域進(jìn)行基礎(chǔ)和應(yīng)用研究,不僅處理細(xì)顆粒,還處理薄膜和平板樣品的表面科學(xué)。
-
新型功能材料
燃料電池相關(guān)(碳納米管、富勒烯、纖維素納米纖維、功能膜、催化劑、納米金屬)
生物納米相關(guān)(納米膠囊、樹突、DDS、生物納米顆粒)、納米氣泡、
生物相容性材料等
-
陶瓷和著色材料工業(yè)
陶瓷(二氧化硅、氧化鋁、氧化鈦等)
無機(jī)溶膠的表面改性、分散和聚合控制
顏料(炭黑和有機(jī)顏料)的分散和聚合控制
漿料樣品
彩色濾光片
懸浮礦物的收集材料吸附研究
-
半導(dǎo)體領(lǐng)域
硅晶片表面異物附著的機(jī)理 闡明
研磨劑、添加劑與晶圓表面相互作用的研究
CMP漿料
-
聚合物和化學(xué)工業(yè)
乳液(涂料和粘合劑)的分散和聚合控制、乳膠表面改性(醫(yī)藥和工業(yè))
聚合物電解質(zhì)(聚苯乙烯磺酸鹽、聚羧酸等)的功能研究、功能性納米顆粒
造紙和紙漿造紙工藝控制以及紙漿添加劑研究
-
制藥和食品工業(yè)
乳液(食品、香料、醫(yī)療和化妝品)的分散和聚集控制、蛋白質(zhì)功能
- 脂質(zhì)體和囊泡的分散和聚合控制、表面活性劑(云蘇)的功能
-
測量原理 澤塔電位 電泳光散射法(激光多普勒法) 顆粒大小 動態(tài)光散射法(光子相關(guān)法) 分子量 靜態(tài)光散射方法 光學(xué) 澤塔電位 異質(zhì)光學(xué) 顆粒大小 均入式光學(xué)系統(tǒng) 分子量 均入式光學(xué)系統(tǒng) 光源 窄帶半導(dǎo)體激光器 探測器 高靈敏度 APD 單元單元 標(biāo)準(zhǔn)流單元(Zeta 電位和顆粒大小) 顆粒大小單元(顆粒大?。? 顆粒大小多角度單元(顆粒大小和分子量) 溫度 0 至 90°C(帶梯度功能) 電源 100V ± 10% 250VA 尺寸 (WDH) 330(W)×565(D)×245(H) 重量 22 kg 測量范圍澤塔電位 -200 ~ +200 mV 電流動性 -2×10 -5 ~ 2×10 -5 cm2/V.s 顆粒大小 0.6 nm ~ 10μm 分子量 340 ~ 2×107 對應(yīng)范圍
測量溫度范圍 0 ~ 90℃ 測量濃度范圍 Zeta 電位:0.001 至 40%,
顆粒尺寸:0.00001 (0.1 ppm) 至 40% *1
產(chǎn)品留言
標(biāo)題
聯(lián)系人
聯(lián)系電話
內(nèi)容
注:1.可以使用快捷鍵Alt+S或Ctrl+Enter發(fā)送信息!
2.如有必要,請您留下您的詳細(xì)聯(lián)系方式!
2.如有必要,請您留下您的詳細(xì)聯(lián)系方式!