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產(chǎn)品詳情

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產(chǎn)品名稱(chēng)：Otsuka大塚電子 RETS延遲測(cè)量設(shè)備
產(chǎn)品型號(hào)：
產(chǎn)品廠(chǎng)商：OTSUKA大塚電子
產(chǎn)品價(jià)格：0
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簡(jiǎn)單介紹：

Otsuka大塚電子 RETS延遲測(cè)量設(shè)備它是一種延遲測(cè)量設(shè)備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。實(shí)現(xiàn)超高Re.60000nm的高速、高精度測(cè)量。薄膜的層壓狀態(tài)可以通過(guò)“無(wú)剝離、無(wú)損”進(jìn)行測(cè)量。此外，它還配備了簡(jiǎn)單的軟件和校正功能，通過(guò)重新放置樣品來(lái)糾正偏差，從而輕松實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。

詳情介紹：

江蘇地區(qū)代理Otsuka大塚電子 RETS延遲測(cè)量設(shè)備RETS-100nx

規(guī)格

手勢(shì)

類(lèi)型表達(dá)式	延遲測(cè)量設(shè)備 RETS-100nx
測(cè)量項(xiàng)目（薄膜、光學(xué)材料）	延遲（波長(zhǎng)色散）、慢軸、Rth^1，三維折射率^1等
測(cè)量項(xiàng)目（偏振板）	吸收軸、偏振度、消光比、各種色度、各種透射率等
測(cè)量項(xiàng)目（液晶電池）	細(xì)胞間隙，預(yù)傾角^*1、扭曲角、取向角等
延遲測(cè)量范圍	0 ～ 60,000nm
延遲可重復(fù)性	3 μ≦0.08nm（晶體波長(zhǎng)板約 600nm）
細(xì)胞間隙測(cè)量范圍	0 到 600μm（μn = 0.1）
細(xì)胞間隙可重復(fù)性	3π≦0.005μm（單元間隙約3μm、Δn=0.1時(shí)）
軸檢測(cè)可重復(fù)性	3° ≦0.08° （晶體波長(zhǎng)板約 600nm）
測(cè)量波長(zhǎng)范圍	400 至 800nm（可選）
探測(cè)器	多通道光譜儀
測(cè)量直徑	φ2mm （標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格）
光源	100W 鹵素?zé)?
數(shù)據(jù)處理部	個(gè)人計(jì)算機(jī)、顯示器
舞臺(tái)尺寸：標(biāo)準(zhǔn)	100mm × 100mm（固定級(jí)）
選項(xiàng)	超高延遲測(cè)量、多層測(cè)量、軸角度校正功能、自動(dòng) XY 級(jí) 、自動(dòng)傾斜旋轉(zhuǎn)階段

*1 需要自動(dòng)傾斜旋轉(zhuǎn)階段（可選）

特點(diǎn)

高精度測(cè)量，因?yàn)樗菍?zhuān)有的光譜儀

■ 高精度

通過(guò)多波長(zhǎng)測(cè)量實(shí)現(xiàn)

在短波長(zhǎng)下，可以確定近似值的結(jié)果，如難以測(cè)量的 lamb標(biāo)準(zhǔn) / 4，lamb標(biāo)準(zhǔn) / 2。結(jié)果不受薄膜厚度干擾波形的影響。
高精度 <高精度原因>
使用獨(dú)特的高性能多通道光譜儀
，獲得大量的透射率信息，可實(shí)現(xiàn)
高精度測(cè)量（獲得的透射率信息約為 500 波長(zhǎng)，是其他公司產(chǎn)品的 50 倍）