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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
代理AR測試儀Otsuka大塚RETS-100nx
VR測試儀 Re測試 相位延遲測試儀 大塚電子RETS
詳情介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理、直營各日本品牌工業(yè)產(chǎn)品，聯(lián)系人：張小姐
聯(lián)系電話：15902189399
延遲測量設(shè)備 RETS-100nx 新
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它是一種延遲測量設(shè)備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。 |
產(chǎn)品信息
特點
高精度測量，因為它是專有的光譜儀
■ 高精度
通過多波長測量實現(xiàn)
高精度 <高精度原因>
使用獨特的高性能多通道光譜儀
， 獲得大量的透射率信息 ， 可實現(xiàn)
高精度測量 （ 獲得的透射率信息約為 500 波長，是其他公司產(chǎn)品的 50 倍）
■ 范圍廣（延遲范圍：0~60000nm）
■ 可知延遲波長色散形狀
超高延遲測量 - 超雙折射薄膜可高速、高精度地測量 -
■ 高延遲
多層測量 - 無需剝離即可測量各種薄膜的層壓狀態(tài)，
軸角度校正功能 - 即使樣品安裝偏移，也能輕松測量可重復(fù)性 -
■ 將樣品重新放置10次，比較結(jié)果無角度校正
[ 樣品： 相位差膜R85 ]
簡單軟件 - 顯著縮短測量和處理時間。 可操作性大幅UP-
規(guī)格
手勢
| 類型表達(dá)式 | 延遲測量設(shè)備 RETS-100nx |
| 測量項目（薄膜、光學(xué)材料） | 延遲（波長色散）、慢軸、Rth*1，三維折射率*1等 |
| 測量項目（偏振板） | 吸收軸、偏振度、消光比、各種色度、各種透射率等 |
| 測量項目（液晶電池） | 細(xì)胞間隙，預(yù)傾角*1、扭曲角、取向角等 |
| 延遲測量范圍 | 0 ～ 60,000nm |
| 延遲可重復(fù)性 | 3 μ≦0.08nm（晶體波長板約 600nm） |
| 細(xì)胞間隙測量范圍 | 0 到 600μm（μn = 0.1） |
| 細(xì)胞間隙可重復(fù)性 | 3π≦0.005μm（單元間隙約3μm、Δn=0.1時） |
| 軸檢測可重復(fù)性 | 3° ≦0.08° （晶體波長板約 600nm） |
| 測量波長范圍 | 400 至 800nm（可選） |
| 探測器 | 多通道光譜儀 |
| 測量直徑 | φ2mm （標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格） |
| 光源 | 100W 鹵素?zé)? |
| 數(shù)據(jù)處理部 | 個人計算機(jī)、顯示器 |
| 舞臺尺寸：標(biāo)準(zhǔn) | 100mm × 100mm（固定級） |
| 選項 |
超高延遲測量 、多層測量 、軸角度校正功能 、自動 XY 級 、自動傾斜旋轉(zhuǎn)階段 |
*1 需要自動傾斜旋轉(zhuǎn)階段（可選）
光學(xué)
特點
固定級 [ 選項 ： 軸角度校正功能 ]
自動傾斜旋轉(zhuǎn)階段 [ 選項 ]
自動 XY 舞臺 [ 選項 ]
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