搜索

熱門搜索：

代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.

產(chǎn)品中心

所在位置: 首頁> 產(chǎn)品目錄> Otsuka大冢> 顯微分光膜厚儀>

產(chǎn)品詳情

查看大圖

產(chǎn)品名稱：Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型
產(chǎn)品型號： FE-300薄膜類型
產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
產(chǎn)品價格：0
折扣價格：0
產(chǎn)品文檔：

你添加了1件商品查看購物車

簡單介紹：

Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型

詳情介紹：

膜厚計FE-300

它是一種緊湊且低成本的膜厚計，可以通過高精度光學干涉法輕松測量膜厚。
我們采用了一體式外殼，將必要的設(shè)備容納在主體中，從而實現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。
通過以低廉的價格獲得**反射率，可以分析光學常數(shù)。

產(chǎn)品資訊
原理
規(guī)范
設(shè)備配置

產(chǎn)品資訊

特殊長度

支持從薄膜到厚膜的各種膜厚
使用反射光譜進行膜厚分析
緊湊且價格低廉，實現(xiàn)了非接觸，無破壞的高精度測量
簡單的條件設(shè)置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
使用峰谷法，頻率分析法，非線性*小二乘法，優(yōu)化法等，可以進行多種膜厚測量。
通過非線性*小二乘法的膜厚分析算法，可以進行光學常數(shù)分析（n：折射率，k：消光計數(shù)）。

測量項目

**反射率測量
膜厚分析（10層）
光學常數(shù)分析（n：折射率，k：消光計數(shù)）

測量目標

功能膜，塑料
透明導電膜（ITO，銀納米線），相位差膜，偏光膜，AR膜，PET，PEN，TAC，PP，PC，PE，PVA，膠粘劑，膠粘劑，保護膜，硬質(zhì)大衣，防指紋等
半導體
化合物半導體，硅，氧化膜，氮化膜，抗蝕劑，SiC，GaAs，GaN，InP，InGaAs，SOI，藍寶石等。
表面處理
DLC涂層，防銹劑，防霧劑等
光學材料
濾鏡，增透膜等
FPD
LCD（CF，ITO，LC，PI），OLED（有機膜，密封劑）等
其他
硬盤，磁帶，建筑材料等

產(chǎn)品留言

標題

聯(lián)系人

聯(lián)系電話

內(nèi)容

驗證碼

點擊換一張

注：1.可以使用快捷鍵Alt+S或Ctrl+Enter發(fā)送信息!
2.如有必要,請您留下您的詳細聯(lián)系方式!

蘇公網(wǎng)安備 32050502000409號

日韩欧美一区二区四区,精品久久久久一区二区国产,久久精品99国产精品亚洲最刺激,日本一区二区免费在线无删减

產(chǎn)品名稱：Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型

膜厚計FE-300

產(chǎn)品資訊