熱門搜索：
代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
產(chǎn)品中心
-
CEDAR思達
-
Stucchi思多奇
-
NITTO KOHKI日...
-
Sankei
-
KYOWA協(xié)和工業(yè)
- DIT東日技研
- AITEC艾泰克
-
SIGMAKOKI西格瑪...
- REVOX萊寶克斯
- CCS 希希愛視
- SIMCO思美高
- POLARI0N普拉瑞
- HOKUYO北陽電機
- SSD西西蒂
- EMIC 愛美克
- TOFCO東富科
-
打印機
- HORIBA崛場
- OTSUKA大冢電子
- MITAKA三鷹
- EYE巖崎
- KOSAKA小坂
-
SAGADEN嵯峨電機
- TOKYO KEISO東...
- takikawa 日本瀧...
- Yamato雅馬拓
- sanko三高
- SEN特殊光源
-
SENSEZ 靜雄傳感器
- marktec碼科泰克
- KYOWA共和
- FUJICON富士
- SANKO山高
-
Sugiyama杉山電機
-
Osakavacuum大...
-
YAMARI 山里三洋
- ACE大流量計
- KEM京都電子
- imao今尾
- AND艾安得
- EYELA東京理化
- ANRITSU安立計器
- JIKCO 吉高
- NiKon 尼康
- DNK科研
- Nordson諾信
- PISCO匹斯克
- NS精密科學(xué)
- NDK 日本電色
-
山里YAMARI
- SND日新
-
Otsuka大塚電子
- kotohira琴平工業(yè)
- YAMABISHI山菱
- OMRON歐姆龍
- SAKURAI櫻井
- UNILAM優(yōu)尼光
-
氙氣閃光燈
-
UV反轉(zhuǎn)曝光系統(tǒng)
-
UV的水處理
-
檢測系統(tǒng)
-
光照射裝置
-
點光源曝光
-
變壓型電源供應(yīng)器
-
超高壓短弧汞燈
-
UV光洗凈
-
UV曝光裝置
-
uv固化裝置
-
紫外可見光光度計
熱門品牌展示
產(chǎn)品展示
-
一種測量照明設(shè)備的配光特性的設(shè)備。 ?使用內(nèi)部開發(fā)的分光鏡可以實現(xiàn)高精度的測量！ -可以與配光數(shù)據(jù)一起測量顏色！- 即使在光譜測量中，也可以實現(xiàn)相當(dāng)于照度計的高速測量！ ?根據(jù)配光測量結(jié)果可以進行照明率分析！!! -符合標(biāo)準的測量系統(tǒng)！ ?也可以由測量基準部門提供技術(shù)支持！ 該設(shè)備可處理從室內(nèi)照明到泛光燈的各種照明設(shè)備，并滿足多種用途的需求。
-
除了可以進行高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜儀之外，我們還通過實現(xiàn)自動可變測量機制來支持所有類型的薄膜。除了常規(guī)的旋轉(zhuǎn)光子檢測器方法之外，通過為延遲板提供自動連接/分離機制，還提高了測量精度。
-
它是一種緊湊且價格低廉的膜厚計，可通過高精度光學(xué)干涉儀以簡單的操作實現(xiàn)膜厚測量。 我們采用了一體式的機殼，在主機中容納了必要的設(shè)備，從而實現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。 通過以低價獲得優(yōu)良反射率可以分析光學(xué)常數(shù)。
-
多功能多通道光譜檢測器，支持紫外線至近紅外區(qū)域。光譜光譜至少可以在5毫秒內(nèi)測量。標(biāo)準光纖無需指定樣品類型即可支持各種測量系統(tǒng)。除了顯微光譜，光源發(fā)射，透射/反射測量之外，還可以通過與軟件結(jié)合來支持對象顏色評估，膜厚測量等。
-
Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000
-
晶圓在線測厚系統(tǒng)GS-300Otsuka大塚晶圓在線測厚系統(tǒng)GS-300Otsuka大塚晶圓在線測厚系統(tǒng)GS-300Otsuka大塚
-
Otsuka大塚內(nèi)置膜厚監(jiān)測儀Otsuka大塚內(nèi)置膜厚監(jiān)測儀Otsuka大塚內(nèi)置膜厚監(jiān)測儀
-
Otsuka大塚膜厚計FE-300標(biāo)準型Otsuka大塚膜厚計FE-300標(biāo)準型Otsuka大塚膜厚計FE-300標(biāo)準型
-
頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率（多層OPTM顯微分光膜厚儀OPTM-A3Otsuka大塚膜厚度，光學(xué)常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的**機制 易于分析向?qū)?，初學(xué)者也能夠進行光學(xué)常數(shù)分析 獨立測量頭對應(yīng)各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Ots
