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GP-2000 OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng) 紫外LED的配光特性.。 ·根據(jù)放射強度/放射光照度的配光評價。 ·通過分光配光評價每個波長的放射強度。 使**和樹脂硬化光源的照射不均可視化。OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng)GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng)GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測量系統(tǒng)GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測量
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FM-9015UV OTSUKA大冢-UV測定裝置 OTSUKA大冢-UV測定裝置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV測定裝置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV測定裝置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV測定裝置FM-9015UV
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它是一種可以與生產線的控制信號同步，高速在線評估 LED 光學特性的設備。 LE-5400 提供質量控制所需的光學特性信息，例如 NG 判斷和分類。
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“光譜輻照度測量系統(tǒng) IL100”評估光源的照度。 ?從光譜輻照度測量中高精度測量照度 ? 從紫外線到可見光和紅外線的寬測量波長范圍? 可選擇的照度頭適用于高斜入射特性等應用 ?光合作用研究必不可少的PFD和PPFD 可 通過專用軟件進行測量和照明 電源也是集體控制 這個設備追求到精良的基礎照度測量。
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評估光源在紫外線區(qū)域的輻射。 ? 通過光譜輻射度測量高精度測量亮度 ? 支持紫外線、可見光和紅外線的寬測量波長范圍 ? 可以進行光生物 **性評估 它是一種可以測量紫外線亮度的有限設備。
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“紫外分光輻照度測量系統(tǒng)IL100”評估光源在紫外區(qū)的輻照度。 ?從光譜輻照度測量中高精度測量照度 ? 從紫外線到可見光的寬測量波長范圍 ?可選擇的照度頭適用于高斜入射特性等應用 ?可以進行生物系統(tǒng)評估必不可少的PFD測量 它是一種即使在紫外線區(qū)域也能實現(xiàn)高精度測量的設備。 產品咨詢
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評估 UV LED 的光分布特性。 ?基于輻射強度/輻照度的光分布評估 ?通過光譜光分布評估每個波長的輻射強度 可視化用于**和樹脂固化的光源的不均勻照射。
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評估 UV LED 的輻射通量。 ? 性能更高的紫外線 LED 的輸出評估 ? 溫度評估與溫度控制單元相結合 支持 紫外線 LED 的 光學特性評估，預計將被**、凈化和樹脂固化。
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它測量從 LED 到照明的各種光源的總光通量。 ?積分球+分光鏡支持從總光通量到顏色測量的廣泛范圍。 ?可以通過控制光源的加熱/冷卻來評估溫度特性 。繁瑣操作要求 測量精度高集成半球，樣品組方便 測量大功率激光光源瓦級對應 測量系統(tǒng)對應任何場景總光通量測量多年經(jīng)驗，滿足需求支持。
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一種測量照明設備配光特性的裝置。 ?使用內部開發(fā)的分光鏡實現(xiàn)高精度測量！ -顏色可以與光分布數(shù)據(jù)一起測量！- 即使在光譜測量中也可實現(xiàn)相當于照度計類型的高速測量！ ?可根據(jù)配光測量結果進行照度分析！!! -符合標準測量系統(tǒng)！
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彩色濾光片分光特性測量裝置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色濾光片分光特性測量裝置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色濾光片分光特性測量裝置OTSUKA大冢LCF SERIES
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多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)NANOSAQLA 界達電位ELSZ 多檢體NANO粒徑測量系統(tǒng) 多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)NANOSAQLA
