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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測(cè)厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測(cè)器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺(tái)階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無(wú)塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛(ài)睦威地震儀、HOKUYO北陽(yáng)電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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日本大冢量子效率測(cè)量系統(tǒng)QE-2100 日本大冢量子效率測(cè)量系統(tǒng)QE-2100 日本大冢量子效率測(cè)量系統(tǒng)QE-2100
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日本大冢量子效率測(cè)量系統(tǒng)QE-2000 日本大冢量子效率測(cè)量系統(tǒng)QE-2000 日本大冢量子效率測(cè)量系統(tǒng)QE-2000
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界達(dá)電位OTSUKA大冢量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng)界達(dá)電位OTSUKA大冢量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng) 激光粒徑分析儀 激光粒度儀 激光粒徑儀 激光散射粒度分布儀 固體表面zeta電位 固體zeta電位 優(yōu)良分子量測(cè)量 分子直徑測(cè)量 分子量測(cè)量 粒度儀 粒徑儀 粒度分析儀 粒度測(cè)定儀 zeta電位儀 zeta電位測(cè)試 zeta電位測(cè)量?jī)x zeta電位測(cè)試儀 納米粒徑分析儀 zeta電位測(cè)定儀 nanoSAQL 納米粒度儀 ze
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OTSUKA大冢-量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng) 量子點(diǎn)材料具有根據(jù)粒子直徑不同發(fā)光波長(zhǎng)發(fā)生變化的特性。 在本系統(tǒng)中，在評(píng)價(jià)粒子直徑以及分散穩(wěn)定性的同時(shí)，也可以對(duì)熒光特性進(jìn)行評(píng)價(jià)。 OTSUKA大冢-量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng)OTSUKA大冢-量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng)OTSUKA大冢-量子點(diǎn)評(píng)系統(tǒng)
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OTSUKA大冢液晶層間隙量測(cè)設(shè)備RETS series OTSUKA大冢液晶層間隙量測(cè)設(shè)備RETS series OTSUKA大冢液晶層間隙量測(cè)設(shè)備RETS series
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日本OTSUKA大冢相位差膜?光學(xué)材料檢查設(shè)備RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜?光學(xué)材料檢查設(shè)備RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜?光學(xué)材料檢查設(shè)備RETS-100
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“一步操作”是一種追求用戶友好性的設(shè)備，無(wú)需任何繁重的工作，設(shè)置樣品即可立即看到結(jié)果。 該設(shè)備旨在縮短檢測(cè)過(guò)程，無(wú)需校準(zhǔn)曲線即可高精度、高分辨率地輕松找到優(yōu)良厚度。 由于使用了大冢電子開(kāi)創(chuàng)的光學(xué)方法，因此可以在不接觸的情況下高精度測(cè)量不透明、粗糙表面和容易變形的樣品，同時(shí)節(jié)省空間。
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除了可實(shí)現(xiàn)高精度薄膜分析的光譜橢偏儀外，我們還通過(guò)實(shí)施自動(dòng)可變測(cè)量機(jī)制支持所有類型的薄膜。除了傳統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)光子檢測(cè)器方法外，還通過(guò)為延遲板提供自動(dòng)安裝/拆卸機(jī)制來(lái)提高測(cè)量精度。
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它是一種緊湊、低成本的薄膜厚度計(jì)，它通過(guò)簡(jiǎn)單的操作實(shí)現(xiàn)了高精度光學(xué)干涉測(cè)量的薄膜厚度測(cè)量。 我們采用一體式外殼，將必要的設(shè)備安裝在主體中，實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。 通過(guò)以低廉的價(jià)格獲得**反射率，可以分析光學(xué)常數(shù)。
