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杭州HORIBA堀場 納米顆粒追蹤分析儀ANALYSETTE 28 ViewSizer 3000的三個激光器可同時工作，可在同一樣品中收集各種尺寸的*準確的分布和濃度信息。如果某一顆粒來自某一激光的散射光信號太強使檢測器達到飽和，軟件會自動使用來自較低功率激光器的數(shù)據(jù)來確保獲得*準確的尺寸和濃度信息。另一方面，當來自某一激光的散射光信號太弱而無法檢測時，軟件會使用更高功率激光的數(shù)據(jù)來準確跟蹤顆
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杭州HORIBA堀場 納米顆粒追蹤分析儀ViewSizer 3000 ViewSizer 3000的三個激光器可同時工作，可在同一樣品中收集各種尺寸的*準確的分布和濃度信息。如果某一顆粒來自某一激光的散射光信號太強使檢測器達到飽和，軟件會自動使用來自較低功率激光器的數(shù)據(jù)來確保獲得*準確的尺寸和濃度信息。另一方面，當來自某一激光的散射光信號太弱而無法檢測時，軟件會使用更高功率激光的數(shù)據(jù)來準確跟蹤顆粒。
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浙江區(qū)域供應(yīng)HORIBA崛場半導(dǎo)體激光粒度分析儀HORIBA LA-350 激光粒度分析儀是一款性能高、價格低、體積小巧的粒徑分析儀器。LA-350廣泛應(yīng)用于漿料、礦物和造紙行業(yè)等多種領(lǐng)域?；贚A系列分析儀的先進光學(xué)設(shè)計，LA-350實現(xiàn)了高性能、易操作、低維護和高效益的優(yōu)點。LA-350體積小巧(297 mm x 420 mm)，可以有效節(jié)省實驗室空間。除此之外，LA-350巧妙的設(shè)計、高質(zhì)量的制造確保儀器操作方便、測量范圍寬 (0.1-1000 μm)和測量結(jié)果準確。
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無錫供應(yīng)HORIBA堀場半導(dǎo)體激光粒度分析儀LA-960V2 LA-960V2 秉承 HORIBA 一貫的優(yōu)異設(shè)計**行業(yè)方向。其直觀的軟件、特有的附件和優(yōu)異的性能將科學(xué)認知推向未知世界，是LA系列儀器的突破性演變。
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總代HORIBA崛場有機污染物監(jiān)測儀OPSA-150 HORIBA推出采用具有25年以上豐富經(jīng)驗的獨特測量方法---「旋轉(zhuǎn)式單元長度調(diào)整系統(tǒng)」的新型有機污染物監(jiān)測儀。此裝置可用于以下三個主要方面：水質(zhì)總量控制中排出口的有機污染物質(zhì)的監(jiān)測，水源地取水口處的有機污染物質(zhì)的監(jiān)測，工業(yè)過程中的有機污染物質(zhì)的監(jiān)測，如酚的監(jiān)測等。
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無錫有售HORIBA崛場半導(dǎo)體油分分析儀OCMA-550 OCMA-550 用于測量零部件表面的殘油和土壤中粘附的油分。 整個測量過程十分簡單，只需將待測樣液加入比色皿，然后放置到儀器內(nèi)，即可實現(xiàn)測量。人性化的簡單設(shè)計，單手即可操作測量蓋的開/關(guān)。對于可以萃取的油分是*好的測量方法，如評估零部件表面的殘油，測量食物中的油分。
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昆山供應(yīng)HORIBA崛場 半導(dǎo)體油分分析儀OCMA-500 加入樣液和萃取劑后，只需要按下“ENT”鍵，就可以自動完成從萃取到排液的整個過程。無需開/關(guān)閥門的額外操作，追求測量的快速化。本機型為彩色LCD顯示屏，提升了電機攪拌速度，改進了萃取罐設(shè)計增加了背光燈，提高了可操作性。
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南京供應(yīng)HORIBA崛場在線監(jiān)控橢偏儀UVISEL Plus In-Situ UVISEL Plus在線監(jiān)控橢偏儀可以很容易的安裝在各類反應(yīng)腔（PECVD、MOCVD、磁控濺射、蒸鍍、ALD和MBE），實時監(jiān)控薄膜沉積或刻蝕過程。UVISEL Plus在線橢偏儀結(jié)合了速度快、靈敏度高、動態(tài)范圍寬和準確等優(yōu)點，使其能夠在原子層水平監(jiān)控沉積/刻蝕，即使過程速度比較快也可實現(xiàn)。
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浙江供應(yīng)HORIBA崛場真空紫外橢偏儀UVISEL2VUV UVISEL 2 VUV專為VUV 測量設(shè)計，整個系統(tǒng)處于真空狀態(tài)，無氧氣吸收。具備高準確性；超快測量速度；快速樣品室抽真空能力，方便快速更換樣品；氮氣消耗量少。光譜范圍可覆蓋147-2100nm。UVISEL 2 VUV能夠在充氮氣或抽真空模型下工作。整個機械設(shè)計經(jīng)過優(yōu)化，氮氣消耗量低至6L/min，載樣速度快，2分鐘內(nèi)即可完成。真空樣品倉門朝向操作人員更便于樣品裝載
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江蘇HORIBA崛場智能型多功能橢偏儀Smart SESmart SE 是一款通用型薄膜測量工具。測試速度快，準確。它可以表征幾埃到20μm薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)（n, k）以及薄膜結(jié)構(gòu)特性（如粗糙度、光學(xué)梯度及各向異性等）。Smart SE是一款性價比極高的薄膜研發(fā)工具，以經(jīng)濟實惠的價格提供了研究級的性能。標配一套完整樣品可視化系統(tǒng)，準確定位分析位置及區(qū)域，7個不同尺寸的微光斑可用于微區(qū)特征分析。
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總代HORIBA崛場 橢圓偏振光譜儀UVISEL PLUS 光譜范圍從FUV到NIR：190-2100nm UVISEL Plus橢圓偏振光譜儀為先進薄膜、表面和界面表征提供了模塊化和性能的優(yōu)化組合。 UVISEL Plus作為一款高準確性、高靈敏度、高穩(wěn)定性的經(jīng)典橢偏機型，它采用了PEM 相位調(diào)制技術(shù)，與機械旋轉(zhuǎn)部件技術(shù)相比， 能提供更好的穩(wěn)定性和信噪比。光譜范圍從190nm到2100nm。
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國內(nèi)總代HORIBA崛場一鍵式全自動快速橢偏儀 Auto SEAuto SE是一種新型薄膜測量工具。僅需簡單的幾個按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動完成樣品測量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報告，包括薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、表面粗糙度和薄膜的不均勻性、反射率或透過率。Auto SE全自動化設(shè)計、一鍵式操作，功能齊全。配備自動XYZ樣品臺進行成像分析，自動切換微光斑，多種附件可選，以滿足不同的應(yīng)用需求。
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江蘇區(qū)域供應(yīng)HORIBA崛場納米顆粒分析儀粒度儀SZ-100V2納米技術(shù)的研發(fā)是一個持續(xù)不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質(zhì)的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產(chǎn)品。組件的小型化——即納米級控制可以有效實現(xiàn)更快的測量速度、更好的設(shè)備性能以及更低的設(shè)備運行能耗。納米技術(shù)在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學(xué)等很多領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。
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總代HORIBA納米粒度及電位分析儀粒度儀SZ-100-Z2SZ-100-Z2 納米技術(shù)的研發(fā)是一個持續(xù)不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質(zhì)的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產(chǎn)品。組件的小型化——即納米級控制可以有效實現(xiàn)更快的測量速度、更好的設(shè)備性能以及更低的設(shè)備運行能耗。納米技術(shù)在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學(xué)等很多領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。
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總代日本HORIBA崛場納米顆粒分析儀粒度儀SZ-100-S2 納米技術(shù)的研發(fā)是一個持續(xù)不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質(zhì)的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產(chǎn)品。組件的小型化——即納米級控制可以有效實現(xiàn)更快的測量速度、更好的設(shè)備性能以及更低的設(shè)備運行能耗。納米技術(shù)在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學(xué)等很多領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。
